19 试验
65 农业
77 冶金
  • T/ICMTIA 5.2-2020 集成电路用ArF浸没式光刻胶 现行
    译:T/ICMTIA 5.2-2020 ArF immersion photomask for integrated circuits
    适用范围:范围:本文件适用于集成电路用ArF浸没式光刻胶; 主要技术内容:本文件规定了ArF浸没式光刻胶的要求、试验方法、检测标准及包装、运输、存储
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01
  • T/ICMTIA 5.3-2020 集成电路用ArF光刻胶光刻检测方法 现行
    译:T/ICMTIA 5.3-2020 The method of inspecting ArF photoresist used in integrated circuits using optical lithography
    适用范围:范围:本文件适用于集成电路用ArF光刻胶; 主要技术内容:本文件规定了ArF光刻胶的光刻检测要求及方法、检测标准及包装、运输、存储及环保要求
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01
  • T/ICMTIA 4.2-2020 集成电路用氟化氩光刻胶单体 第2部分:固体甲基丙烯酸酯类 现行
    译:T/ICMTIA 4.2-2020 Fluorinated Ar photoresist monomer for integrated circuits Part 2: Solid methyl acrylate type
    适用范围:范围:本文件适用于由有机原料、溶剂、适宜阻聚剂等组分合成经精制后可适用于氟化氩树脂制备用的单体; 主要技术内容:本文件规定了集成电路用氟化氩光刻胶单体 第2部分 固体甲基丙烯酸酯类的术语和定义、产品类型和结构特点、技术要求、分析检测方法、工艺要求、包装、贮存和运输等要求
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G30/39合成材料
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01
  • T/ICMTIA 4.1-2020 集成电路用氟化氩光刻胶单体 第1部分:液体甲基丙烯酸酯类 现行
    译:T/ICMTIA 4.1-2020 The monomer for fluorinated argon resist used in integrated circuits, Part 1: Liquid methacrylate derivatives
    适用范围:范围:本文件适用于由有机原料、溶剂、适宜阻聚剂等组分合成经精制后可适用于氟化氩树脂制备用的单体; 主要技术内容:本文件规定了集成电路用氟化氩光刻胶单体 第1部分 液体甲基丙烯酸酯类的术语和定义、产品类型和结构特点、技术要求、分析检测方法、工艺要求、包装、贮存和运输等要求
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G30/39合成材料
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01
  • T/ICMTIA 5.1-2020 集成电路用 ArF 干式光刻胶 现行
    译:T/ICMTIA 5.1-2020 ArF dry photoresist used in integrated circuits
    适用范围:范围:本文件适用于集成电路用 ArF 干式光刻胶; 主要技术内容:本文件规定了 ArF 干式光刻胶的要求、试验方法、检测标准及包装、运输、存储要求
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :G64高纯试剂、高纯物质
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-12-31 | 实施时间: 2021-03-01