国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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被代替
译：GB/T 22057.2-2008 Microscopes—Imaging distances related to mechanical reference planes—Part 2:Infinity-corrected optical systems适用范围：GB/T 22057的本部分规定了物镜、目镜的像距和具有无限远校正光学系统显微镜“标准”镜筒透镜的焦距。 GB/T 22057的本部分适用于机械筒长为无限远的生物、金相和偏光显微镜。【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2008-06-20 | 实施时间： 2009-01-01收藏 -
现行
译：GB/Z 21738-2008 Fundamental structures of one dimensional nano-materials—High resolution transmission electron microscopy characterization适用范围：本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理，术语和定义，仪器和设备，样品制备，测量程序，结果表示以及试验报告等。 本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构（形貌、排列情况、大小线度的分布、晶化情况、生长取向关系），元素组分，截面及界面原子排布等。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.01光学和光学测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N30/39光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2008-05-08 | 实施时间： 2024-08-16收藏
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被代替
译：GB/T 20726-2006 Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors适用范围：本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的量值。本标准仅适用于固态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)联用的此类EDS的最低要求,至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.99有关分析化学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-25 | 实施时间： 2007-08-01收藏
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废止
译：GB/T 20732-2006 Optical fiber diameter analyser适用范围：本标准规定了纤维直径光学分析仪的术语和定义、基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装运输及贮存。 本标准适用于显微镜投影成像、并采用计算机数字图像处理技术的纤维直径光学分析仪(以下简称仪器)。【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-13 | 实施时间： 2007-07-01收藏
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现行
译：GB/T 1185-2006 Surface imperfections of optical elements适用范围：本标准规定了光学零件表面疵病的术语、定义、符号、公差、标识和试验方法。 本标准适用于光学零件经抛光、磨边、注塑、镀膜等加工后的表面粗糙度Rz≤0.1 μm的透射和反射表面,光学零件经刻划、胶合、涂覆等加工后的透射和反射表面也可参照执行。【国际标准分类号(ICS)】 ：01.100.01技术制图综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：N30/39光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-13 | 实施时间： 2007-07-01收藏
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现行
译：GB/T 20307-2006 General rules for nanometer-scale length measurement by SEM适用范围：本标准规定了用扫描电镜测量纳米级长度的基本原则。适用于测量10nm～500nm的点或线的间距。【国际标准分类号(ICS)】 ：17.040长度和角度测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-07-19 | 实施时间： 2007-02-01收藏
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现行
译：GB/T 20244-2006 Fiber optic devices for image transmission适用范围：本标准规定了光学纤维传像元件的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于像增强器、变像管、像增强型CCD等光电器件中使用的光学纤维传像元件。【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N38光学设备发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-05-08 | 实施时间： 2006-11-01收藏
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被代替
译：GB/T 2609-2006 Microscopes—Objectives适用范围：本标准规定了显微镜物镜的基本参数、技术要求、试验方法和标志。 本标准适用于共轭距离为185 mm、195 mm、210 mm和无限远的明场观察的显微物镜，不适用于具有特殊构造的物镜。【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-05-08 | 实施时间： 2006-11-01收藏
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现行
译：GB/T 20175-2006 Surface chemical analysis—Sputter depth profiling—Optimization using layered system as reference materials适用范围：为使俄歇电子能谱、X射线光电子能谱和二次离子质谱的仪器设定达到深度分辨的优化目的，本标准采用适当的单层和多层膜系参考物质，提供优化溅射深度剖析参数的指南。 特殊多层膜系（如各种掺杂层膜系）的使用不包括在本标准内。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-03-27 | 实施时间： 2006-11-01收藏
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现行
译：GB/T 20176-2006 Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials适用范围：本标准详细说明了用标定的均匀掺杂物质（用注入硼的参考物质校准）确定单晶硅中硼的原子浓度的二次离子质谱方法。它适用于均匀掺杂硼浓度范围从1×10 16 atoms/cm 3~1×10 20 atoms/cm3。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-03-27 | 实施时间： 2006-11-01收藏
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被代替
译：GB/T 19864.1-2005 Stereomicroscopes—Part 1:Stereomicroscopes for general use【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2005-07-29 | 实施时间： 2006-04-01收藏
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被代替
译：GB/T 19864.2-2005 Stereomicroscopes—Part 2:High performance stereomicroscopes【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2005-07-29 | 实施时间： 2006-04-01收藏
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现行
译：GB/T 19863-2005 Testing of stereomicroscopes【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N32放大镜与显微镜发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2005-07-29 | 实施时间： 2006-04-01收藏
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现行
译：GB/T 10248-2005 Gas analysis—Preparation of calibration gas mixtures—Static volumetric methods【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.40化学分析 【中国标准分类号(CCS)】 ：N30/39光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2005-05-18 | 实施时间： 2005-12-01收藏
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现行
译：DB31/T 315-2004 The calibration method for transmission electron microscope magnification【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-DB31)上海市地方标准 | 发布时间： 2004-05-18 | 实施时间： 2004-08-01收藏
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现行
译：GB/T 19500-2004 General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2004-04-30 | 实施时间： 2004-12-01收藏
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废止
译：GB 7667-2003 The dose of X-rays leakage from electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-11-20 | 实施时间： 2004-05-01收藏
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废止
译：DB31/T 297-2003 Scanning electron microscope calibration method for magnification【国际标准分类号(ICS)】 ：33.100电磁兼容性(EMC) 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-DB31)上海市地方标准 | 发布时间： 2003-10-28 | 实施时间： 2004-01-01收藏
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被代替
译：GB/T 3161-2003 Optical theodolite【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N31望远镜、大地测量与航测仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-01-17 | 实施时间： 2003-08-01收藏
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被代替
译：GB/T 18907-2002 Method of selected area electron diffraction for transmission electron microscopes【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180光学和光学测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-12-05 | 实施时间： 2003-05-01收藏
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