GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)
GB/T 19403.1-2003 Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part11:Section1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
国家标准
中文简体
现行
页数：24页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2003-11-24
实施日期
2004-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位
全国集成电路标准化分技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
2003年11月
研制信息
- 起草单位：
- 信息产业部第四研究所
- 起草人：
- 魏华、王静
- 出版信息：
- 页数：24页 | 字数：45 千字 | 开本： 大16开
内容描述
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