GB/T 24198-2009 镍铁 镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法(常规法)

ICS77.100

H11SB

中华人民共和国国家标准

GB/T24198—2009

鎳铁¥臬、硅、磷、锚、钻、锯和铜含量的

测定波长色散x■射线荧光光谱法

(常规法)

Ferronickel—Determinationofnickel,silicon,phosphorus,manganese,cobalt,

chromium,andcoppercontents—

WavelengthdispersiveX-rayfluorescencespectrometry

(Routinemethod)

2009-07-08发布2010-04-01实施

GB/T24198—2009

本标准的附录A和附录B为规范性附录。

本标准由中国钢铁工业协会提出。

本标准由全国生铁及铁合金标准化技术委员会归口。

本标准主要起草单位:酒泉钢铁（集团）有限责任公司。

本标准主要起草人:朱卫华、孙宇光、王昊、付宝荣。

T

GB/T24198—2009

鎳铁鎳、硅、磷、¥孟、钻、锯和铜含量的

测定波长色散x■射线荧光光谱法

（常规法）

警告：使用本标准的人员应有正规实验室工作实践经验。本标准未指出所有可能的安全问题。使

用者有责任采取适当的安全和健康措施.并保证符合国家有关法规规定的条件。

1范围

本标准规定了用波长色散X-射线荧光光谱法测定镰、硅、磷、猛、钻、锯和铜的含量。

本方法适用于电炉、感应炉、转炉等铸态或锻轧镰铁的测定。各元素测定范围如表lo

表1元素及测定范围

分析元素测定范围（质量分数）/%

Ni12.0〜60.0

Si0.10〜2.0

P0.()1〜0.15

Mn0.05〜0.50

Co0.30〜1.00

Cr0.05〜1.00

Cu0.05〜1.5

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用标准，其随后所有

的修改单（不包括勘误的内容）或修改版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究

是否可使用这些标准的最新版本。凡是不注日期的引用标准，其最新版本适用于本标准。

GB/T4010铁合金化学分析用试样的采取和制备

GB/T6379.1测量方法与结果的准确度（正确度与精密度）第1部分：总则与定义

（GB/T6379.1—2004,ISO5725-1：1994,IDT）

GB/T6379.2测量方法与结果的准确度（正确度与精密度）第2部分：确定标准测量方法重复

性和再现性的基本方法（GB/T6379.2—2004,ISO5725-2：1994,IDT）

GB/T16597冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则

GB/T20066钢和铁化学成分测定用试样的取样和制样方法（GB/T20066—2006,ISO14284：

1996,IDT）

3原理

X射线管产生的初级X射线照射到平整、光洁的样品表面上吋，产生的特征X射线经晶体分光后,

探测器在选择的特征波长相对应的20角处测量X射线荧光强度。根据校准曲线和测量的X射线荧光

强度，计算出样品中镰、硅、磷、猛、钻、锯和铜的质量分数。

4试剂与材料

4.1P10气体（90%的氮和10%的甲烷的混合气体）用于流气正比计数器。

1

GB/T24198—2009

4.2有证标准物质或标准物质

有证标准物质(CRM)或标准物质(RM)0用于日常分析绘制校准曲线吋，所选系列有证标准物质

或标准物质中各分析元素含量应覆盖分析范围且有适当的梯度；用于对仪器进行漂移校正吋，所选有证

标准物质或标准物质应有良好的均匀性，且接近校准曲线的上限和下限。

5仪器与设备

5.1制样设备

试样切割设备和试样表面的抛光设备。

5.2X射线荧光光谱仪

同时或顺序式波长色散光谱仪的分析精度和稳定性应达到附录A要求。

5.2.1X射线管

高纯元素靶的X射线管，推荐使用铐靶。

5.2.2分析晶体

能覆盖方法中的所有元素和可能干扰元素，可使用平面或弯曲面的晶体。

5.2.3准直器

对于顺序型仪器，应选择合适的准直系统。

5.2.4探测器

闪烁计数器，用于重元素分析；流气正比计数器，用于轻元素分析。

也可以使用密封正比计数器。

5.2.5真空