GB/T 43034.2-2024 集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分：同步瞬态注入法

ICS31200

CCSL.56

中华人民共和国国家标准

GB/T430342—2024/IECTS62215-22007

.:

集成电路脉冲抗扰度测量

第2部分同步瞬态注入法

:

Integratedcircuits—Measurementofimpulseimmunity—

Part2Snchronoustransientinectionmethod

:yj

IECTS62215-22007IDT

(:,)

2024-10-26发布2024-10-26实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T430342—2024/IECTS62215-22007

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

总则

4………………………2

概述

4.1…………………2

测量原理

4.2……………2

布置原则

4.3……………3

响应信号

4.4……………3

耦合网络

4.5……………3

试验电路板

4.6…………………………7

的特殊要求

4.7IC………………………7

试验条件

5…………………8

默认试验条件

5.1………………………8

试验布置的脉冲抗扰度

5.2……………8

试验布置

6…………………8

概述

6.1…………………8

试验设备

6.2……………9

试验布置说明

6.3………………………9

信号关系说明

6.4………………………10

测量次数和时间步长的计算

6.5………………………10

试验程序

6.6……………11

监测检查

6.7……………11

系统确认

6.8……………11

试验报告

7…………………11

通则

7.1…………………11

抗扰度限值或等级

7.2…………………12

性能分级

7.3……………12

试验结果的说明和比较

7.4……………12

附录资料性微控制器中所用软件的流程图

A()………13

附录资料性试验布置控制软件总线控制程序的流程图

B()()………14

附录资料性试验板要求

C()……………15

参考文献

……………………18

Ⅰ

GB/T430342—2024/IECTS62215-22007

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成电路脉冲抗扰度测量的第部分已经发布了以下

GB/T43034《》2。GB/T43034

部分

:

第部分同步瞬态注入法

———2:;

第部分非同步瞬态注入法

———3:。

本文件等同采用集成电路脉冲抗扰度测量第部分同步瞬态注入

IECTS62215-2:2007《2:

法文件类型由的技术规范调整为我国的国家标准

》,IEC。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口

(SAC/TC599)。

本文件起草单位中国电子技术标准化研究院深圳市北测标准技术服务有限公司安徽中认倍佳

:、、

科技有限公司工业和信息化部电子第五研究所厦门海诺达科学仪器有限公司天津先进技术研究院

、、、、

北京智芯微电子科技有限公司苏州泰思特电子科技有限公司南京容测检测技术有限公司浙江诺益

、、、

科技有限公司扬芯科技深圳有限公司国家无线电监测中心检测中心中国家用电器研究院中国信

、()、、、

息通信研究院南京师范大学东莞职业技术学院

、、。

本文件主要起草人付君崔强方文啸吴建飞张海峰张艳艳莫国延李旸梁吉明胡小军

:、、、、、、、、、、

邢立文郑益民杨红波董奇峰熊宇飞颜伟褚瑞康志能魏海红陈梅双

、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T430342—2024/IECTS62215-22007

.:

引言

为规范集成电路脉冲抗扰度测量以及为集成电路制造商和检测机构提供脉冲抗扰度测量方

,

法规定了集成电路脉冲抗扰度测量的通用条件定义和不同注入测量方法的试验程序和

,GB/T43034、

试验要求拟由个部分构成

,2。

第部分同步瞬态注入法目的在于规定同步瞬态注入法的试验程序和试验要求

———2:。。

第部分非同步瞬态注入法目的在于规定非同步瞬态注入法的试验程序和试验要求

———3:。。

Ⅳ

GB/T430342—2024/IECTS62215-22007

.:

集成电路脉冲抗扰度测量

第2部分同步瞬态注入法

:

1范围

本文件给出了评价集成电路对快速传导同步瞬态骚扰抗扰度试验方法的通用信息和定义

(IC)。

这些信息包括试验条件试验设备试验布置试验程序和试验报告的内容要求

、、、。

本文件的目的是描述通过建立相同的试验环境获得抗扰度的定量度量的通用条件同时也描述

IC,

了预期会影响试验结果的关键参数与本文件的偏离需在试验报告中明确地注明

。。

本文件给出的同步瞬态抗扰度测量方法是使用具有不同幅值持续时间和极性的上升时间快速的

、,

短脉冲以传导的方式耦合给在本方法中施加的脉冲需与的功能运行同步目的是确保可控的

IC。,IC,

和可复现的条件

。

2规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件

。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

。

31

.

辅助设备auxiliaryequipmentAE

;

对于暴露在骚扰中的受试器件全部功能的建立和正确性能操作进行判定所必需的非受

(DUT)()

试设备

。

32

.

耦合网络couplingnetwork

具有规定阻抗和传输特性已知的电路用于将能量从一个电路传输到另一个电路

,。

33

.

受试器件deviceundertestDUT

;

被评估的器件设备或系统

、。

注在本文件中是指受试半导体器件

:,DUT。

34

.

电磁兼容性electromagneticcompatibilityEMC

;

设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的

能力

。

来源

[:IEC60050-161:1990,161-01-07]

35

.

电噪声electricalnoise

在控制系统的电路中出现的能产生有害效应的无用电信号

。

来源

[:IEEEstd100-1992-518-1982]

1