GB/T 6062-2002 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性

GB/'r6062-2002

前言

本标准是根据国际标准ISO3274:1996产《品几何量技术规范表面结构轮廓法接触(触针)

式仪器的标称特性》对GB/T6062-1985((轮廓法触针式仪器表面粗糙度测量仪轮廓记录仪及中

线制轮廓计》进行修汀的，在技术内容上与ISO3274等效，编写规则上与之等同。该标准的修订与ISO/

TC213产品几何技术(GPS)标准总体规划协调一致，适用于表面结构实际轮廓的评定，并针对新一代

触针式仪器，扩大了使用面，满足了国内生产和进口仪器的验收，适应国际贸易、技术和经济交流以及采

用国际标准飞速发展的需要。

本标准主要规定了与仪器标准有关的定义:如轮廓、触针式仪器、触针式仪器的结构、仪器的计量特

性等有关定义。规定了有关仪器特性的标称值:如针尖半径及角度、静态测量力、轮廓滤波器截止波

长又、触针半径及粗糙度截止波长率等重要技术内容。

本标准增加了三个附录，附录AK符合GB/T60621985的仪器》、附录B《本标准改进的背景》和

附录C在《产品几何技术规范体系中的关系》。这对正确理解和贯彻使用以及新旧标准的过渡起着重要

的作用。

本标准与GB/T6062-1985的重要不同是在传输特性和导头的使用这两个方面作了重大变化，并

与国际上取得了一致。

本标准与工SO3274:1996的区别是标准中只引用了相关的标准，但并不影响标准的使用。

本标准规定了轮廓及用于测量表面粗糙度和波度的接触(触针)式仪器的定义，本标准适用于实际

轮廓的评定。本标准特别说明了影响轮廓评定的仪器特性，并提出了接触式仪器(轮廓计和轮廓记录

仪)的基本技术规范

本标准自实施之日起，代替GB/T6062-1985,

本标准的附录A、附录B和附录C是提示的附录。

本标准由中国机械工业联合会提出。

本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会归口。

本标准起草单位:机械科学研究院、时代集团公司、中国计量科学研究院、哈尔滨理工大学。

本标准主要起草人:王欣玲、王忠滨、高思田、赵有祥、陈捷。

GB/T6062-2002

ISO前言

ISO(国际标准化组织)是一个世界范围的国家标准化组织(ISO成员)的联合会，国际标准的制定

工作通常由ISO各技术委员会进行。每个成员组织，对某一主题的技术委员会感兴趣，就有权参加该委

员会工作，其他与ISO协作的政府间或非政府间的国际组织也可以参加工作。ISO与IEC(国际电工委

员会)在所有有关电工技术标准化的内容上进行密切合作

由技术委员会提出的国际标准草案，散发给各成员组织，由各成员组织投票表决，至少需要75%的

赞成票才能作为国际标准公布

国际标准ISO3274是由ISO/TC57表《面特征及其计量学》及其分委员会SC1S(几何参数—一表

面粗糙度和波度的测量仪器和方法》,ISO/TC3((极限和配合》和ISO/TC10技《术制图、产品定义和相

关文件》及其分委员会SC5((尺寸和公差》技术委员会共同制定的。

ISO3274的这个第二版取梢和替代了第一版(ISO3274:1975)及已被修订过的ISO1880:1979。它

特别考虑了接触(触针)式仪器的标称特性及其技术发展。现代仪器使用符合ISQ11562规定的相位修

正滤波器。

本标准附录A,B和C是提示性附录。

中华人民共和国国家标准

产品几何A技术规范(GPS)

表面结构轮廓法GB/r6062-2002

eqvISO3274门996

接触(触针)式仪器的标称特性

代替GB/T6062--1985

Geometricalproductspecifications(GPS)一

Surfacetexture-Profilemethod--

Nominalcharacteristicsofcontact(stylus)instruments

，范围

本标准规定了轮廓的定义及用于测量表面粗糙度和波纹度的接触(触针)式仪器的一般结构。

本标准还规定了影响轮廓评定的仪器特性，并提供了接触(触针)式仪器轮〔廓计和轮廓记录仪)的

基本技术规范

本标准适用于对实际轮廓评定的触针仪器，使现行的国家标准能够用于实际轮廓的评定。

注

1由仪器制造商提供的关于接触(触针)式仪器特性的技术数据正在制定中，并将在今后标定方法的标准中被

引用

2关干波纹度截止长度z,、针尖半径和波纹度截止长度率之间的关系正在制定中，将作为一个修IF.加进本标准

2引用标准

下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，，所示版本均

为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。

GB/T3505-2000产品几何技术规范表面结构轮廓法表面结构的术语、定义和参数(eqv

ISO4287:1997)

GB/T10610-1998产品几何技术规范表面结构轮廓法评定表面结构的规则和方法(eqv

ISO4288:1997)

3定义

本标准采用以下定义。

3.1轮廓profiles

3.1.1轨迹轮廓tracedprofile

测量表面时，触针在被测表面的横切面内针尖中心点的轨迹，这个触针具有理想的几何形状(带有

球形尖端的圆锥体)、标称尺寸和标称测力。

注:本标准中所有其他轮廓都从该轮廓导出

3.1.2基准轮廓referenceprofile

测头沿着导向基准在横切面内移动的轨迹。

注基准轮廓的形状是一个理论准确轮廓的实际表现.它的标称偏差取决于导向基准的偏差以及外部和内部的

中华人民共和国国家质f监督检验检疫总局2002一01一10批准2002一07一01实施

GB/'r6062-2002

干扰

3.1.3总轮廓totalprofile

轨迹轮廓相对于基准轮廓的数字表示形式，它具有相互对应的垂直和水平坐标值。

注总轮廓是由-一对应的垂直和水平数字坐标表示的

3.1.4原始轮廓primaryprofile

通过短波滤波器A后的总轮廓

注

1原始轮廓是按照GB/T3505标准进行轮廓滤波和参数计算的数字轮廓的基础它是用一一对应的垂直和水平

数字表示的，这些数据可以不同干总轮廓数据.

2GB/T3505标准中指出的最佳拟合的最小二乘法形式不是原始轮廓的一部分，应该在滤波器使用之前消除对

于一个回，半径也应该包含在最小二乘优化中，不保持固定的标称值

3这个标称形式在原始轮廓获得之前被去除。

3.1.5残余轮廓(虚假轮廓)residualprofile

通过测量一个理想的光滑表面(平晶)而获得的原始轮廓。

注虚假轮廓是由导向基准的偏差、外部和内部的干扰、以及轮廓传输中的偏差组成的。役有专用设备和适合的环

境一般不能确定这些偏差的原因。

3.2触针式仪器stylusinstrument

用触针探测表面并获得表面轮廓、计算参数，还可以记录轮廓的测量仪器(见图1)e

注:所示框图仅表示在一个理论准确的测量系统中所需要的基本功能单元。各功能单元之间特有的内部关系可以

通过设计考虑确定。因此，图1不是理论上准确配置的唯一形式。

3.2.1感应位移数字存储触针式仪器displacementsensitive,digitallystoringstylusinstrument

轮廓中包含有长波成分和调整偏差的触针式仪器。

注:轮廓以数字形式存储。如果滤波，则为相位修正滤波。参数是以数字形式计算轮廓通过一个消除变形的图形系

统来记录

13触针式仪器的部件。tylusinstrumentcomponents

3.3.1测量环measurementloop

一个封闭链，包括连接被测工件和触针针尖的全部机械单元，例如:定位工具、紧固夹具、测量底座、

驱动器、测头(传感器)。(见图2),

注:测量环会受到外部和内部的干扰并将它们传递给基准轮廓。这些千扰的影响取决于每个单独的测量调整.测量

环境和使用者的技能。干扰对残余轮哪值的影响很大.

3.3.2导向基准referenceguide

产生一个横切面，并在这个横切面内的一个理论准确的几何轨迹(基准轮廓)上引导测头，这个轨迹

通常是一条直线。

注:导向基准是驱动器的基本部件，有一部分可在侧头中。导头的使用见附录A

3.3.3驱动器driveunit

测头沿着基准导轨移动，且以轮廓的水平坐标值传递触针针尖的水平位置的装置。

注:用能够选择的最大的行程长度表示驱动器的特性。

CB/T6062-2002

泊

解

袱、

翻

团