GB/T 6462-2005 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法

ICS25.220.20

A29场a

中华人民共和国国家标准

GB/T6462-2005/ISO1463:2003

代替GB/T6462-1986

金属和氧化物覆盖层厚度测量

显微镜法

Metallicandoxidecoatings-

Measurementofcoatinginckness-Microscopicalmethod

(ISO1463:2003,IDT)

2005-06-23发布2005-12-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T6462-2005/LSO1463:2003

目次

一

前言

范围

规范性引用文件···……

术语和定义

4原理

影响测量不确定度的因素

横断面的制备····，·，…

7测量··……‘············……‘···············，·，·····。·······························。·······················……3

8测量的不确定度············。·················，···················。···、···········，······……3

9试验报告·‘························································‘····················，············，·······……3

附录A(资料性附录)关于横断面制备和测量的指南·甲，·······。·…，..…，，4

附录B(资料性附录)横断面的斜度和齿状结构覆盖层的测量··········。·······················。····……6

附录C(资料性附录)室温下使用的典型的浸蚀剂·················。‘一，··...·……，……8

参考文献····························。········。··································……‘·..·········..····...……9

GB/T6462-2005/ISO1463:2003

NO舌

本标准等同采用ISO1463:2003《金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法))(英文版)。

本标准等同翻译ISO1463:2003,

为了便于使用，本标准做了下列编辑性修改:

a)‘本国际标准’一词改为‘本标准’;

b)‘该国’一词改为‘国家夕;

C)用小数点‘.’代替作为小数点的逗号‘，’;

d)删除国际标准的前言。

本标准代替GB/T6462-1986《金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法》。与

GB/T6462-1986相比主要变化如下:

—标准名称改为《金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法》;

—增加了测量方法的适用范围(第1章);

—增加了规范性引用文件(第2章);

—增加了局部厚度定义(第3章);

—增加了附录B,

本标准的附录A、附录B、附录C为资料性附录。

本标准由中国机械工业联合会提出。

本标准由全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会(SAC/TC57)归口。

本标准负责起草单位:武汉材料保护研究所、宁波永新光学股份有限公司。

本标准主要起草人:张德忠、曾丽珠、陈晓帆、王成。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为:

—GB/T6462-19860

GB/T6462-2005/ISO1463:2003

金属和氧化物覆盖层厚度测量

显微镜法

范围

本标准规定了运用光学显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层和釉瓷或玻璃搪瓷覆盖层

的局部厚度的方法。

普告:应用本标准可能涉及到危险的材料、操作和装置的使用。本标准没有提出使用过程中的任何

健康危害和安全问题。在运用本标准前，使用者有责任根据国家或当地的规定制定合适的健康和安全

条例，并采取相应的措施。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有

的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究

是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

GB/T12334金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的宁u和-I$t.WII(idtiSO2064)

3术语和定义

GB/T12334确立的以及下列术语和定义适用于本标准。

局部厚度localthickness

在参比面内进行规定次数厚度测量的平均值

4原理

从待测件上切割一块试样，镶嵌后，采用适当的技术对横断面进行研磨、抛光和浸蚀。用校正过的

标尺测量覆盖层横断面的厚度。

注:有经验的金相学家对这些技术很熟悉，对于经验不足的操作者，第5章和附录A中给出了一些指南。

5影响测f不确定度的因素

5.1表面粗糙度

如果覆盖层或覆盖层基体表面是粗糙的，那么与覆盖层横断面接触的一条或两条界面线是不规则

的，以致不能精确测量(见A.5)

5.2横断面的斜度

如果横断面不垂直于待测覆盖层平面，那么测量的厚度将大于真实厚度。例如:垂直度偏差100,

将产生1,5%的误差。

注:附录B中B.1提供了关于倾斜横断面的指南。

5.3菠盖层变形

镶嵌试样和制备横断面的过程中，过高的温度和压力将使软的或低熔点的覆盖层产生有害变形;在

制备脆性材料横断面时，过度的打磨也同样会产生变形

5.4覆盖层边缘倒角

如果覆盖层横断面边缘倒角，即覆盖层横断面与边缘不完全平整，采用显微镜测量则得不到真实厚

度。不正确的镶嵌、研磨、抛光和浸蚀都会引起边缘倒角，因此在镶嵌之前，待测试样常要附加镀层，这

GB/T6462-2005八SO1463:2003

样可使边缘倒角减至最小。(见A.2)

5.5附加镀层

在制备横断面时