适用范围：本文件规定了不同板材厚度、不同材料强度下自攻螺钉连接底孔直径，为拧紧扭矩的确定和分类提供了计算说明。 本文件适用于螺纹规格为ST2.2～ST9.5、符合GB/T 5280自攻螺钉与规定强度的金属材料连接。

适用范围：本文件规定了满足检测要求以期获得满意、经济、重复性好的检测结果的胶片和数字射线照相检测的基本技术。本文件规定的技术以检测基本理论和试验为基础。本文件适用于钢管服役过程中引起的点状腐蚀、面状腐蚀和侵蚀等缺陷的射线检测。本文件中使用的“管”除其常规含义外，也包括其他圆筒形物体，如小口径管、压力管、锅炉汽包和压力容器。本文件规定的检测技术适用于腐蚀/侵蚀类缺陷的焊缝检测，不适用于焊接过程产生典型缺陷的检测。本文件描述了可能由腐蚀或侵蚀造成的管道内部或外部材料损失的评价方法。管道可能含或不含保温层。本文件规定了检测壁厚损失的双壁检测技术，包括双壁单影技术（DWSI)和双壁双影技术（DWDI)。注：  本文件中描述的DWDI通常和ISO 207691确定的切向射线照相技术联合使用。本文件适用于使用工业胶片射线照相、计算机射线照相（CR)和数字阵列探测器（DDA)的在役双壁射线检测技术。

适用范围：本文件规定了增材制造用铂及铂合金粉的分类和标记、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存、随行文件及订货单内容。本文件适用于增材制造用铂及铂合金粉。

适用范围：本文件规定了测量自行式工业车辆（以下简称“车辆”）作业能耗的通用试验准则和要求。对于电动车辆，还包括蓄电池和蓄电池充电机的效率。ISO 233082和ISO 233083中的具体要求优先于本文件的相应要求。本文件适用于产品生命周期中的使用阶段。本文件适用于ISO 50531所定义的以下类型的车辆：--平衡重式叉车；--铰接平衡重式叉车；--前移式叉车（具有可伸缩门架或货叉架）；--插腿式叉车；--托盘堆垛车；--托盘搬运车；--平台搬运车;--端部操纵式托盘搬运车；--拣选车；--中心操纵式拣选车；--牵引车、推顶车以及载运车;--牵引堆垛车；--侧面式叉车（单侧）；--伸缩臂式集装箱搬运车；--平衡重式集装箱堆高机;--侧面堆垛式叉车（两侧）；--三向堆垛式叉车；--多向运行叉车。

适用范围：本文件规定了熔化焊、压力焊和钎焊等焊接方法在加工过程中的能耗检测总体要求、检测仪器要求、能耗检测范围及种类、检测及计算方法和检测报告。 本文件适用于熔化焊、压力焊和钎焊等焊接方法在加工过程中（包括空载和焊接）能耗的检测，其他焊接方法可参照执行。能耗检测不包括焊前预热及焊后热处理等过程消耗的能量。

适用范围：本文件规定了满足检测要求以期获得满意、经济、重复性好的检测结果的胶片和数字射线照相检测的基本技术。本文件规定的技术以检测基本理论和试验为基础。本文件适用于钢管服役过程中引起的点状腐蚀、面状腐蚀和侵蚀等缺陷的射线检测。本文件中使用的“管”除其常规含义外，也包括其他圆筒形物体，如小口径管、压力管、锅炉汽包和压力容器。本文件规定的检测技术适用于腐蚀/侵蚀类缺陷的焊缝检测，不适用于焊接过程产生典型缺陷的检测。本文件描述了可能由腐蚀或侵蚀造成的管道内部或外部材料损失的评价方法。管道可能含或不含保温层。本文件规定了探测和测量壁厚方向厚度损失的切向检测技术，包括以下射线源布置:a）在管道中心线上；和 b）在管径方向上偏离中心线。ISO 207692规定了双壁射线检测技术。双壁双影技术通常和源在管道中心线上的切向射线技术联合使用。本文件适用于使用工业胶片射线照相、计算机射线照相（CR）和数字阵列探测器（DDA）的切向射线检测技术。

适用范围：本文件规定了黑色和有色金属基体上电沉积工程用镍陶瓷复合镀层的要求，描述了电沉积镍陶瓷颗粒复合镀层的制备方法。 本文件适用于工程应用的镍基复合镀层。 本文件不适用于镍体积分数小于40%的合金或复合材料。

适用范围：本文件规定了操作者控制的自行式车辆、牵引车和载运车的能耗试验方法。本文件适用于GB/T 6104.1-2018所定义的以下类型车辆：--平衡重式叉车；--铰接平衡重式叉车；--前移式叉车（具有可伸缩门架或货叉架)；--插腿式叉车；--托盘堆垛车；--托盘搬运车； --平台搬运车； --端部操纵式托盘搬运车；--拣选车；--中心操纵式拣选车；--牵引车、推顶车以及载运车； --牵引堆垛车；--侧面式叉车（单侧)；--侧面堆垛式叉车（两侧)；--三向堆垛式叉车；--多向运行叉车。

适用范围：本文件规定了ISO 50531所定义的集装箱搬运车的能效试验方法。

适用范围：本文件描述了用于测量扫描电容显微镜（scanning capacitance microscope，SCM）或扫描扩展电阻显微镜（scanning spreading resistance microscope，SSRM）空间（横向）分辨的方法，该方法涉及使用锐边的器件。这2种显微镜广泛应用于半导体器件的载流子分布成像和其他电学特性的测量。