适用范围：GB/T 17739的本部分规定了用35mm银—明胶型黑白缩微胶片拍摄技术图样和技术文件制成缩微品的质量要求和检验方法。 本部分适用于各种技术图样及技术文件的第一代、第二代及发行用银—明胶型缩微品。

适用范围：本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。

适用范围：GB/T 20493的本部分规定了用GB／T 20493.1—2006所规定的标板以及其他标板对办公文件黑白反射扫描输出质量在其使用期间的前后一致性进行评价的测试方法。 本部分适用于评价黑白或彩色办公文件(无论其是否具有半色调或彩色)用黑白扫描器扫描的输出质量。 本部分不适用于彩色扫描器或扫描透明或半透明文件用的扫描器。

适用范围：本标准规定了密集型波分复用器/解复用器(以下简称DWDM器件)的相关定义和分类、技术要求和试验方法；规定了检验规则及标识、包装、运输和贮存要求。 本标准适用于密集型波分复用器/解复用器(DWDM器件)

适用范围：本标准描述了有关传感器规范的基本条款，这些条款适用于由半导体材料制造的传感器，也适用于由其他材料（例如绝缘或铁电材料）所制造的传感器。

适用范围：GB/T 20441的本部分适用于工作标准传声器。 本部分规定了测量系统中用于测定声压的工作标准传声器的机械尺寸和电声特性，这些传声器可用作声学测量仪器校准中的传递标准。 本部分规定了工作标准传声器的分类方法，根据尺寸和性能将传声器分为几种类型，以便于规范测量系统、用声校准器来校准测量系统和传声器，以及测量和校准系统中传声器的互换性。 本部分对工作标准传声器的换能原理不作说明。

适用范围：本标准规定了测量绝压、表压和差压的半导体传感器的要求。

适用范围：GB/T 20494的本部分规定了GB/T 20494.1—2006所规定的软件测试标板的使用方法。

适用范围：本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1 000 V的器件。 本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。

适用范围：GB/T 20494的本部分规定了用电子方法生成并将用于可接受电子表格的COM记录系统的软件测试标板的特性。标板的各组分可用于检验或测试COM记录器的某些功能，以便使影像质量能够得到评价或维持。软件测试标板组分的确定与记录方法（即激光扫描器、阴极射线管、发光二极管等）无关。