国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：SJ/T 11845.2-2022 Electronic Component Reliability Evaluation Method Based on Low-frequency Noise Parameters - Part 2: Optoelectronic Coupling Devices【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L50/54光电子器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01收藏 -
现行
译：SJ/T 11767-2020适用范围：适用于二极管1 Hz～300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2020-12-09 | 实施时间： 2021-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 11766-2020适用范围：适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L50/54光电子器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2020-12-09 | 实施时间： 2021-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 11586-2016 The method for testing the total radiation exposure of semiconductor devices to 10KeV low-energy X-rays【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L40/49半导体分立器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
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