19 试验
65 农业
77 冶金
无数据~
暂无内容
请重新选择[分类]、[状态]、[年份]
为您推荐您可能感兴趣的内容:
  • GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化 测试方法 现行
    译:GB/T 30869-2014 Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
    适用范围:本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。 本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量,分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-07-24 | 实施时间: 2015-02-01
  • GB/T 30860-2014 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法 现行
    译:GB/T 30860-2014 Test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells
    适用范围:本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)的表面粗糙度及切割线痕的接触式或非接触式轮廓测试方法。 本标准适用于通过线切工艺加工生产的单晶和多晶硅片。如果需要适用于其他产品,则需相关各方协商同意。
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-07-24 | 实施时间: 2015-04-01
  • GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片 现行
    译:GB/T 30858-2014 Polished mono-crystalline sapphire substrate product
    适用范围:本标准规定了蓝宝石单晶衬底抛光片的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、储存、质量证明书与订货单(或合同)内容。 本标准适用于单面抛光蓝宝石衬底片(以下简称蓝宝石衬底片)。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-07-24 | 实施时间: 2015-04-01
  • GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 现行
    译:GB/T 30867-2014 Test method for measuring thickness and total thickness variation of monocrystalline silicon carbide wafers
    适用范围:本标准规定了碳化硅单晶片厚度及总厚度变化(TTV)的测试方法,包括接触式和非接触式两种方式。 本标准适用于直径不小于30 mm、厚度为0.13 mm~1 mm的碳化硅单晶片。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-07-24 | 实施时间: 2015-02-01
  • GB/T 30861-2014 太阳能电池用锗衬底片 现行
    译:GB/T 30861-2014 Germanium substrate for solar cell
    适用范围:本标准规定了太阳能电池用锗衬底片的要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、储存、质量证明书与订货单(或合同)内容。 本标准适用于垂直梯度凝固法(VGF)和直拉法(CZ)制备的太阳能电池用锗衬底片(以下简称锗衬底片)。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H82元素半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-07-24 | 实施时间: 2015-04-01
  • GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法 现行
    译:GB/T 30868-2014 Test method for measuring micropipe density of monocrystalline silicon carbide wafers—Chemically etching
    适用范围:本标准规定了利用熔融氢氧化钾腐蚀法测定碳化硅单晶微管密度的方法。 本标准适用于碳化硅单晶微管密度的测定。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-07-24 | 实施时间: 2015-02-01
  • GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法 现行
    译:GB/T 30866-2014 Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers
    适用范围:本标准规定了用千分尺测量碳化硅单晶片直径的方法。 本标准适用于碳化硅单晶片直径的测量。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-07-24 | 实施时间: 2015-02-01
  • GB/T 30857-2014 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法 现行
    译:GB/T 30857-2014 Standard test method for thickness and thickness variation on sapphire substrates
    适用范围:本标准规定了制备氮化镓薄膜外延片及其他用途的蓝宝石单晶切割片、研磨片、抛光片(简称衬底片)厚度和厚度变化是否满足标准限度要求的测试方法。 本标准适用于蓝宝石衬底片厚度及厚度变化的测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-07-24 | 实施时间: 2015-04-01
  • GB/T 30865.1-2014 手部防护 手持刀具割伤和刺伤的防护手套 第1部分:金属链甲手套和护臂 现行
    译:GB/T 30865.1-2014 Hand protection—Gloves protecting against cuts and stabs by hand knives—Part 1:Chain-mail gloves and arm guards
    适用范围:GB 30865的本部分规定了金属链甲手套和护臂的式样、技术要求、测试方法、标识和制造商应提供的信息。 本部分适用于为使用手持刀具作业而穿戴的金属链甲手套和金属或塑料护臂。 本部分不适用于接触高速转动刀具、冲压作业、搅拌作业、带电作业等场所的防护手套。
    【国际标准分类号(ICS)】 :13.340.40防护手套 【中国标准分类号(CCS)】 :C73劳动防护用品
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-07-24 | 实施时间: 2015-06-01
  • GB/T 30859-2014 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法 现行
    译:GB/T 30859-2014 Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
    适用范围:本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)翘曲度和波纹度的测试方法。 本标准适用于硅片翘曲度和波纹度的测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040金属材料试验 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2014-07-24 | 实施时间: 2015-04-01