适用范围：本标准界定了日用陶瓷的缺陷术语和定义。 本标准适用于日用陶瓷产品。

适用范围：为了给设备的电气特性分析提供标准，需要考虑以下条目从而使得集成电路的输入信号、输出信号、电源、地端口的电气模型标准化：a)在已有标准基础上进行标准化以解决目前存在的问题以及扩大分析能力。b)为电子电路定义更多灵活的描述规则，以提供更准确的PCB分析。c)引入建模等级概念，为每一个应用提供相关数据。d)完善封装和模块的电气模型。

适用范围：本标准规定了倒装焊集成电路封装工艺中凸点共面性、凸点剪切力、芯片剪切拉脱力、焊点缺陷、底部填充缺陷等方面相关的物理试验方法。本标准适用于陶瓷封装或塑料封装的倒装焊单片集成电路。

适用范围：本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。

适用范围：GB/T 32392的本部分建立了一组技术原则，指导如何根据角色和目标、过程、服务的元模型来选择一组合适的模型和/或服务以满足用户需求。本部分仅限于基于ISO/IEC 197635、ISO/IEC 197637和ISO/IEC 197638建立的模型注册库进行模型选择。

适用范围：本标准规定了微波电路频率源的电参数测试方法。本标准适用于微波电路频率源，包括直接模拟合成源、直接数字合成源、间接模拟合成源和间接数字合成源，其他产品可参照使用。

适用范围：GB/T 32392的主要目标是构建支持互操作的元模型框架。本部分详细定义了一个注册服务模型的元模型，可通过服务的重用促进服务之间的互操作性。本部分仅适用于可被某种服务描述语言所描述的Web服务（这些语言的实例见附录A）。图1展示了本部分的研究范围。注： 在注册之前，模型不需要存储于注册库中。

适用范围：针对指纹图像模态的质量方面，GB/T 33767的本部分：--确立了有助于指纹图像质量度量的规范、使用和测试的术语和定义；--定义了指纹图像质量分数；--识别或定义了指纹图像样本库，为算法开发人员和用户提供信息；--为描述质量度量特征，针对指纹图像样本库开发了专门的统计方法，有助于理解质量分数及其与匹配的性能之间的关系。本部分不包括以下内容：--质量算法的性能评估和标准化。