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  • GB/T 4798.4-2023 环境条件分类 环境参数组分类及其严酷程度分级 第4部分:无气候防护场所固定使用 现行
    译:GB/T 4798.4-2023 Classification of environmental conditions—Classification of groups of environmental parameters and their severities—Part 4:Stationary use at non-weatherprotected locations
    适用范围:本文件适用于无气候防护场所固定使用产品的环境参数及其严酷程度分级。有气候防护场所固定使用在GB/T 4798.3—2023给出。 本文件给出的环境条件仅限于直接影响产品性能的条件,仅考虑这样的环境条件。本文件并无特别描述这些条件对产品的影响。 本文件不包括爆炸危险、产品内的微气候、火焰熄灭和电离辐射直接相关的环境条件,也不包括其他不可预见的环境条件。任何其他不可预见的环境条件也被排除。 本文件给出了有限种类的环境条件,涵盖了广泛的应用领域。
    【国际标准分类号(ICS)】 :19.040环境试验 【中国标准分类号(CCS)】 :A21环境条件与通用试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-05-23 | 实施时间: 2023-12-01
  • GB/T 4678.14-2023 压铸模 零件 第14部分:限位钉 现行
    译:GB/T 4678.14-2023 Die casting dies—Components—Part 14:Limit pins
    适用范围:本文件规定了压铸模用限位钉的型式和尺寸、材料、技术要求及标记。本文件适用于压铸模用限位钉的设计及制造。
    【国际标准分类号(ICS)】 :25.120.30模制设备和铸造设备 【中国标准分类号(CCS)】 :J46模具
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-05-23 | 实施时间: 2023-12-01
  • GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命 现行
    译:GB/T 4937.23-2023 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life
    适用范围:本文件描述了随时间的推移,偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作,主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼,可用于筛选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-05-23 | 实施时间: 2023-12-01
  • GB/T 4937.31-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的) 现行
    译:GB/T 4937.31-2023 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices(internally induced)
    适用范围:本文件适用于半导体器件(分立器件和集成电路),以下简称器件。 本文件用于确定器件是否由于过负荷引起内部发热而燃烧。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-05-23 | 实施时间: 2023-12-01
  • GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存 现行
    译:GB/T 4937.42-2023 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 42:Temperature and humidity storage
    适用范围:本文件描述了评价半导体器件耐高温高湿环境能力的试验方法。 本文件适用于评价塑封半导体器件和其他类型封装半导体器件的芯片金属化互连耐腐蚀能力。也可作为由于湿气通过钝化层渗透而导致漏电的加速方法,以及多种试验前的预处理方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-05-23 | 实施时间: 2023-12-01
  • GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的) 现行
    译:GB/T 4937.32-2023 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices(externally induced)
    适用范围:本文件适用于半导体器件(分立器件和集成电路),以下简称器件。 本文件用于确定器件是否由于外部发热造成燃烧。本试验使用针焰,模拟内部装有元器件的设备在故障条件下可能引起的小火焰的影响。 注:除了本章增加的内容以及第2章和第4章增加了标题并重新编号外,本试验方法与IEC 60749(1996)第4章1.2的试验方法一致。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-05-23 | 实施时间: 2023-12-01
  • GB/T 42811-2023 港口集装箱作业系统技术要求 现行
    译:GB/T 42811-2023 Technical requirements for port container operating system
    适用范围:本文件规定了港口集装箱作业系统的构成与配置、总体要求、功能要求和基础环境要求。本文件适用于港口集装箱作业系统的设计、开发及应用。
    【国际标准分类号(ICS)】 :03.220.40水路运输 【中国标准分类号(CCS)】 :R43港口装卸作业
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-05-23 | 实施时间: 2023-09-01
  • GB/T 4502-2023 轿车轮胎性能室内试验方法 现行
    译:GB/T 4502-2023 Laboratory test methods for passenger car tyres capabilities
    适用范围:本文件描述了轿车轮胎性能检验的实验室试验方法,包括试验设备及其精度、试验条件、试验步骤、判定规则和试验报告。 本文件包括轮胎脱圈阻力试验、强度性能试验、高速性能试验、耐久性能试验以及低气压性能试验。在提出的试验方法中,仅有某些试验方法的应用需要依据被测轮胎的类型决定(有内胎或无内胎,斜交轮胎或子午线轮胎等)。 本文件所列试验方法不宜用于轮胎产品的性能或质量水平的分级。 本文件适用于新的轿车充气轮胎和翻新轿车充气轮胎,其他轮胎经相关方协商同意,可参照本文件进行试验。
    【国际标准分类号(ICS)】 :83.160.10道路车辆轮胎 【中国标准分类号(CCS)】 :G41轮胎
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-05-23 | 实施时间: 2023-12-01
  • GB/T 4678.16-2023 压铸模 零件 第16部分:扁推杆 现行
    译:GB/T 4678.16-2023 Die casting dies—Components—Part 16:Flat ejector pins
    适用范围:本文件规定了压铸模用扁推杆的型式和尺寸、材料、技术要求及标记。 本文件适用于压铸模用扁推杆的设计及制造。
    【国际标准分类号(ICS)】 :25.120.30模制设备和铸造设备 【中国标准分类号(CCS)】 :J46模具
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-05-23 | 实施时间: 2023-12-01
  • GB/T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM) 现行
    译:GB/T 4937.27-2023 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27:Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Machine model (MM)
    适用范围:本文件依据半导体器件对规定的机器模型(MM)静电放电(ESD)所造成损伤或退化的敏感度,建立了半导体器件ESD测试和分级的标准程序。本文件相对于人体模型ESD,用作一种可选的测试方法,目的是提供可靠、可重复的ESD测试结果,以此进行准确分级。本文件适用于半导体器件,属于破坏性试验。半导体器件的ESD测试从本文件、人体模型(HBM见GB/T 4937.26)或GB/T 4937系列中的其他测试方法中选择。MM与HBM测试的结果相似但不完全相同。除另有规定外,HBM测试方法为所选方法。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.01半导体器分立件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L40/49半导体分立器件
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2023-05-23 | 实施时间: 2023-12-01