适用范围：本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类别驱动器的测试参考使用。

适用范围：本文件规定了快闪存储器(FLASH)的分类、技术要求、电测试方法和检验规则。 本文件适用于FLASH的设计、制造、采购、验收。

适用范围：本文件规定了基于氢的电能储存系统的典型性能评估方法。本文件适用于具备电解和发电功能的电化学反应装置。本文件适用于针对固定式(室内和室外)场景设计、应用和操作的系统。 基于氢的电能储存系统，其概念性配置如图1和图2所示：图1为独立配备了一个电解池模块和一个燃料电池模块的系统；图2为配备一个可逆电池模块的系统。其必备组件包括电解池、氢储存器、燃料电池，或可逆电池、氧储存器和综合管理系统(可包括压力管理)。其可选组件包括蓄电池、氧储存器、热管理系统(可包括储热器)和水管理系统(可包括水箱)。其性能试验在图示粗实线正方形(系统边界)外部范围进行。 注：在本文件中，“可逆”一词并不是指理想过程的热力学意义。在燃料电池领域，通常把在燃料电池模式和电解模式之间交替的电池运行模式称为“可逆”。 本文件旨在用于系统制造商与客户之间在商业行为中的数据交换。本文件的用户可根据其目的，在本文中选择执行合适的测试项目。

适用范围：本文件定义了集成电路（IC）传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息，描述了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验报告内容。附录A中给出了试验方法的对照表，帮助选择适当的测量方法。

适用范围：本文件规定了家用和类似用途直流插头插座型式、基本参数和尺寸、试验方法。本文件适用于家用和类似用途的、户内或户外使用的、仅用于直流电、额定电压不超过400 V、额定电流不超过16 A的插头和插座。

适用范围：本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。

适用范围：本文件描述了半导体集成电路视频编解码（video encoder and decoder）电路中的模拟视频接口类电路（以下简称“器件”）电特性测试方法。 本文件适用于视频编解码电路中的模拟视频接口类电路的测试。

适用范围：本文件描述了微波电路中检波器（以下简称“检波器”）的电参数测试方法。本文件适用于单管、单片及混合集成等微波电路中检波器的电参数测试，包括检波二极管、均方根检波器、对数放大检波器、包络/峰值检波器等。

适用范围：本文件描述了集成电路（IC）对150 kHz~3 GHz频率范围内的射频（RF）辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。

适用范围：本文件规定了数字模拟（DA）转换器（以下简称DA转换器或DAC）的分类、技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的DA转换器。