适用范围：1.1 本部分与IEC标准的关系 GB/T 31230的本部分依赖于IEC 61158系列文件类型12中相对应的部分。

适用范围：本标准规定了热重法测定样品挥发速率的方法。 本标准适用于使用热重分析仪测试25 ℃～500 ℃温度区间，单一挥发组分的挥发速率。本标准适用于测试挥发速率大于5 μg/min的样品。本标准的使用者有责任确定是否需重复测试以及重复测试的次数，从而达到使用要求。 本标准不包括与其使用相关的所有安全问题。在使用本标准方法之前，使用者有责任建立适当的安全与健康规范，并确认规范的适用性。

适用范围：本标准规定了使用原子力显微镜（AFM）测量表面粗糙度的方法。 本标准适用于测量溅射成膜方法生成的、平均粗糙度Ra小于100 nm的薄膜。 其他非溅射薄膜的表面粗糙度的测量可以参考此方法。

适用范围：本标准界定了仪器化纳米压入试验在基础通用、仪器特性、力学测量、参数识别、试验样品、测试设定方面所涉及的常用术语及其定义。 本标准主要适用于仪器化纳米压入试验，也可拓宽至仪器化压入试验。

适用范围：GB/T 31219的本部分规定了音频资源数字化加工的技术参数和基本工作规范，包括音频资源数字化加工的加工级别及技术参数、加工准备、采集与处理、元数据加工、命名规则、质量管理。 本部分适用于图书馆音频资源数字化加工，其他文献信息机构音频资源的数字化加工也可参照使用。

适用范围：本部分与IEC标准的关系 GB/T 31230的本部分依赖于IEC 61158系列文件类型12中相对应的部分。

适用范围：GB/T 31230的本部分依赖于IEC 61158系列标准类型12中相对应的部分。

适用范围：本标准给出了使用连续变波长、变角度的光谱型椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法。 本标准适用于测试硅基底上厚度均匀、各向同性、10 nm~1 000 nm厚的二氧化硅薄层厚度，其他对测试波长处不透光的基底上单层介电薄膜样品厚度测量可以参考此方法。

适用范围：GB/T 31219的本部分给出了馆藏图像数字资源的加工标准和工作规范。 本部分既适用于非数字化的、以不同形式和载体存储的信息资源，又适用于最初产生时即以数字图像形态存在的原生数字图像资源，也适用于文献经过数字化加工后派生出的数字图像资源。 本部分适用于图书馆图像资源数字化加工，其他文献信息机构的图像资源数字化加工可参照使用。