19 试验
65 农业
77 冶金
  • T/CESA 1121-2020 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法 现行
    译:T/CESA 1121-2020 Artificial intelligence chips and Deep Learning chips for end-to-end testing Indicators and testing methods
    适用范围:主要技术内容:本文件规定了对端侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于端侧深度学习芯片。本文件只规定端侧深度学习芯片基准测试的一般原则。本文件适用于第三方机构对端侧深度学习芯片进行性能测试与评估,也适用于端侧深度学习芯片产品的采购、设计
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :A40/49基础学科
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: 2020-10-30 | 实施时间: 2020-11-10