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  1. 全部
  2. 现行
  3. 即将实施
  4. 被代替
  5. 废止
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• 发布年份 
  1. 全部
  2. 2024
  3. 2023
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  5. 2021
  6. 2020
  7. 2019及以前

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  SJ/T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范
  译：SJ/T 11486-2015
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11460.6.1-2015 液晶显示用背光组件 第6-1部分: 测试方法 光学与光电参数
  译：SJ/T 11460.6.1-2015 Liquid crystal display backlight assembly Part 6-1: Test methods optical and photometric parameters
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L47其他
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11517-2015 电子工业用气体 一氧化碳
  译：SJ/T 11517-2015 Electronic industry gas carbon monoxide
  【国际标准分类号(ICS)】 ：71.100.20工业气体 【中国标准分类号(CCS)】 ：G86工业气体与化学气体
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11521.3-2015 数字电视接收设备交互式平台 第3部分：系统测试规范
  译：SJ/T 11521.3-2015 Digital TV Receiver Interactive Platform Part 3: System Test Specification
  【国际标准分类号(ICS)】 ：33.160.99其他音频、视频和视听设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：M74广播、电视发送与接收设备
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11485-2015 LED型号命名规则
  译：SJ/T 11485-2015
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南
  译：SJ/T 11495-2015 Silicon interstitial oxygen conversion factor guideline
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
  译：SJ/T 11488-2015 Resistivity, Hall coefficient, and mobility testing methods for semi-insulating gallium arsenide
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
  译：SJ/T 11493-2015 The method of secondary ion mass spectrometry for measuring the nitrogen concentration in a silicon substrate
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
  译：SJ/T 11491-2015 Short-baseline infrared absorption spectroscopy method for measuring silicon interstitial oxygen content
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
  译：SJ/T 11504-2015 The testing method for surface quality of silicon carbide single crystal polishing wafers
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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