SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
SJ/T 11504-2015 The testing method for surface quality of silicon carbide single crystal polishing wafers
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：5页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11504-2015
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2015-04-30
实施日期
2015-10-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
适用范围
-
发布历史
-
2015年04月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院
- 起草人：
- 丁丽、周智慧、蔺娴 等
- 出版信息：
- 页数：5页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 45694-2025 天然纤维增强塑料复合(NFC)板试验方法 2025-05-30
- GB/T 45359.5-2025 海工平台定位系泊纤维绳索 第5部分：芳纶 2025-05-30
- GB/T 35351-2025 增材制造 术语 2025-05-30
- GB/T 45685-2025 调味品生产企业质量控制与管理技术指南 2025-05-30
- GB/T 45701-2025 校园配餐服务企业管理指南 2025-05-30
- GB/T 45483-2025 基于运动图像跟踪技术的液体混合燃料微爆特性测试方法 2025-04-25
- GB/T 45657-2025 信息化教学环境视听技术要求 2025-05-30
- GB/T 45613-2025 皮革 物理和机械试验 吸湿性的测定 2025-05-30
- GB/T 45659-2025 轨道交通 供电作业安全控制系统 2025-05-30
- GB/T 45645.1-2025 道路交通事故深度调查技术指南 第1部分：总则 2025-05-30