-
被代替译:GA/T 1065-2013 Calibration specifications for test block of Micro-dose X-ray security inspection systems适用范围:本标准规定了微剂量X射线安全检查设备测试体的术语和定义、计量性能要求、通用技术要求、材料性能确认、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果表达及复校时间间隔。 本标准适用于微剂量X射线安全检查设备测试体的首次校准、后续校准及使用中检验。【国际标准分类号(ICS)】 :17.040.01长度和角度测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 :A52长度计量发布单位或类别:(CN-GA)行业标准-公共安全 | 发布时间: 2013-04-01 | 实施时间: 2013-05-01收藏
-
现行译:GA/T 1062-2013 Calibration specifications for IC-card cursor test system适用范围:本标准规定了IC卡光标测试系统的计量性能要求、通用技术要求、校准条件、校准项目和校准方法。 本标准适用于IC卡光标测试系统的首次校准、后续校准和使用中检验。【国际标准分类号(ICS)】 :17.040.01长度和角度测量综合 【中国标准分类号(CCS)】 :A52长度计量发布单位或类别:(CN-GA)行业标准-公共安全 | 发布时间: 2013-04-01 | 实施时间: 2013-05-01收藏