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  1. 全部
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• 被代替
  GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法
  译：GB/T 14140.1-1993 Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Optical projecting method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01
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• 被代替
  GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法 千分尺法
  译：GB/T 14140.2-1993 Silicon slices and wafers—Measuring of diameter—Micrometer method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.040.01金属材料试验综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01
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• 废止
  YY 0115-1993 一次性使用采血器
  译：YY 0115-1993 Disposable blood collection device
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：C44医用化验设备
  发布单位或类别：(CN-YY)行业标准-医药 | 发布时间： 1993-02-10 | 实施时间： 1993-05-01
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• 被代替
  YY 0108-1993 M型脉冲反射式超声诊断设备
  译：YY 0108-1993 M-type pulse reflection ultrasonic diagnostic device
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：暂无
  发布单位或类别：(CN-YY)行业标准-医药 | 发布时间： 1993-02-10 | 实施时间： 1993-05-01
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• 被代替
  YY 0114-1993 医用输液、输血、注射器用聚乙烯专用料
  译：YY 0114-1993
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：暂无
  发布单位或类别：(CN-YY)行业标准-医药 | 发布时间： 1993-02-10 | 实施时间： 1993-05-01
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• 废止
  GB/T 14145-1993 硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法
  译：GB/T 14145-1993 Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy
  【国际标准分类号(ICS)】 ：49.090机上设备和仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01
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• 被代替
  GB/T 14142-1993 硅外延层晶体完整性检查方法 腐蚀法
  译：GB/T 14142-1993 Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01
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• 被代替
  GB/T 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
  译：GB/T 14144-1993 Test method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
  【国际标准分类号(ICS)】 ：49.035航空航天制造用零部件 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01
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• 被代替
  GB/T 14143-1993 300～900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法
  译：GB/T 14143-1993 300～900μm Silicon slices—Measuring of interstitial oxygen content—Infrared absorption method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01
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• 被代替
  GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
  译：GB/T 14146-1993 Silicon epitaxial layers—Determination of carrier concentration—Mercury probe Valtage-capacitance method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：77.120有色金属 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-02-06 | 实施时间： 1993-10-01
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