19 试验
65 农业
77 冶金
  • GB/T 12114-2013 合成信号发生器通用规范 现行
    译:GB/T 12114-2013 General specification for synthesized signal generators
    适用范围:本标准规定了合成信号发生器术语和定义、通用技术要求、试验方法、质量检验规则和包装运输等内容。 本标准适用于各种类型的合成信号发生器。具有合成信号发生器功能的插入单元或附属装置的测量仪器可以参照本标准。
    【国际标准分类号(ICS)】 :17.040.30测量仪器仪表 【中国标准分类号(CCS)】 :L85/89电子测量与仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-12-31 | 实施时间: 2014-07-15
  • GB/T 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范 现行
    译:GB/T 24468-2009 Specification for definition and measurement of semiconductor equipment reliability,availability and maintainability(RAM)
    适用范围:2.1本标准定义了设备的六个基本状态,所有的设备条件和阶段都必须归入这六个状态。设备的状态由功能决定,而不管是由谁来执行此功能。本规范中所涉及的设备可靠性的测量主要集中在设备失效和设备使用的关系上,而不是设备失效和设备经历的(日历)总时间之间的关系。
    【国际标准分类号(ICS)】 :17.040.30测量仪器仪表 【中国标准分类号(CCS)】 :L85/89电子测量与仪器
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2009-10-15 | 实施时间: 2009-12-01