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  1. 全部
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  SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
  译：SJ/T 11504-2015 The testing method for surface quality of silicon carbide single crystal polishing wafers
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法
  译：SJ/T 11500-2015
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11484-2015 掺铝氧化锌型透明导电氧化物玻璃
  译：SJ/T 11484-2015 Aluminum-doped zinc oxide-containing transparent conductive oxide glass
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
  译：SJ/T 11487-2015 Non-contact method for measuring the resistivity of semi-insulating semiconductor wafers
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南
  译：SJ/T 11495-2015 Silicon interstitial oxygen conversion factor guideline
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
  译：SJ/T 11491-2015 Short-baseline infrared absorption spectroscopy method for measuring silicon interstitial oxygen content
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H82元素半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
  译：SJ/T 11492-2015 The determination of composition of phosphorus-gallium-arsenic wafers using photoluminescence method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11528-2015 信息技术 移动存储 存储卡通用规范
  译：SJ/T 11528-2015
  【国际标准分类号(ICS)】 ：35.240.15识别卡和有关装置 【中国标准分类号(CCS)】 ：L64数据媒体
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
  译：SJ/T 11488-2015 Resistivity, Hall coefficient, and mobility testing methods for semi-insulating gallium arsenide
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范
  译：SJ/T 11486-2015
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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