• 标准状态 
  1. 全部
  2. 现行
  3. 即将实施
  4. 被代替
  5. 废止
  6. 废止转行标
• 发布年份 
  1. 全部
  2. 2025
  3. 2024
  4. 2023
  5. 2022
  6. 2021
  7. 2020及以前

• 现行
  DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范
  译：DB51/T 3207-2024 Microwave Probe Application Specification for Integrated Circuit Test
  适用范围：本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。 本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
  【国际标准分类号(ICS)】 ：17.220电学、磁学、电和磁的测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：L86通用电子测量仪器设备及系统
  发布单位或类别：(CN-DB51)四川省地方标准 | 发布时间： 2024-12-03 | 实施时间： 2024-12-29
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• 废止
  DB51/T 1761-2014 混合信号示波器通用检测方法
  译：DB51/T 1761-2014 Mixed signal oscilloscope universal testing method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：17.220.20电和磁量值的测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：L86通用电子测量仪器设备及系统
  发布单位或类别：(CN-DB51)四川省地方标准 | 发布时间： 2014-04-08 | 实施时间： 2014-06-01
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