19 试验
65 农业
77 冶金
无数据~
暂无内容
请重新选择[分类]、[状态]、[年份]
为您推荐您可能感兴趣的内容:
  • GB/T 5598-1985 氧化铍瓷导热系数测定方法 被代替
    译:GB/T 5598-1985 Test method for thermal conductivity of beryllium oxide ceramics
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.040.20绝缘气体 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1985-11-27 | 实施时间: 1986-12-01
  • GB 5663-1985 药用聚氯乙烯 (PVC) 硬片 废止
    译:GB 5663-1985 Polyvinyl chloride (PVC) sheet for packing solid medicine
    【国际标准分类号(ICS)】 :01综合、术语学、标准化、文献 【中国标准分类号(CCS)】 :C08标志、包装、运输、贮存
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1985-11-30 | 实施时间: 1986-09-01
  • GB/T 5677-1985 铸钢件射线照相及底片等级分类方法 被代替
    译:GB/T 5677-1985 Methods of radiographic testing and classification of radiographs for steel castings
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.040.20金属材料无损检测 【中国标准分类号(CCS)】 :J31铸造
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1985-12-04 | 实施时间: 1986-09-01
  • GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 被代替
    译:GB/T 5594.8-1985 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Determination of microstructure
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1985-11-27 | 实施时间: 1986-12-01
  • GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 被代替
    译:GB/T 5594.4-1985 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for dielectric loss angle tangent value
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1985-11-27 | 实施时间: 1986-12-01
  • GB 5665-1985 医用诊断X线机械装置通用技术条件 废止
    译:GB 5665-1985 General specification for mechanical units of medical diagnostic X-ray equipment
    【国际标准分类号(ICS)】 :11.040.50射线照相设备 【中国标准分类号(CCS)】 :C43医用射线设备
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1985-11-30 | 实施时间: 1986-07-01
  • GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 被代替
    译:GB/T 5594.6-1985 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for chemical durability
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1985-11-27 | 实施时间: 1986-12-01
  • GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 被代替
    译:GB/T 5594.3-1985 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for mean coefficient of linear expansion
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1985-11-27 | 实施时间: 1986-12-01
  • GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 现行
    译:GB/T 5594.2-1985 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1985-11-27 | 实施时间: 1986-12-01
  • GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 现行
    译:GB/T 5594.5-1985 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components—Test method for volume resistivity
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1985-11-27 | 实施时间: 1986-12-01