• 标准状态 
  1. 全部
  2. 现行
  3. 即将实施
  4. 被代替
  5. 废止
  6. 废止转行标
• 发布年份 
  1. 全部
  2. 2024
  3. 2023
  4. 2022
  5. 2021
  6. 2020
  7. 2019及以前

• 现行
  SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
  译：SJ/T 2354-2015 Pin and avalanche photodiode testing methods
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.180印制电路和印制电路板 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
  译：SJ/T 2214-2015 Testing methods for semiconductor photo-diodes and photo-transistors
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 2216-2015 硅光电二极管技术规范
  译：SJ/T 2216-2015 Silicon photodiode technology specification
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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