19 试验
65 农业
77 冶金
  • SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法 现行
    译:SJ/T 2354-2015 Pin and avalanche photodiode testing methods
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.180印制电路和印制电路板 【中国标准分类号(CCS)】 :L54半导体光敏器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01