19 试验
65 农业
77 冶金
  • SJ/T 11845.1-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第1部分:通用要求 现行
    译:SJ/T 11845.1-2022 Method for evaluating the reliability of electronic components based on low-frequency noise parameters - Part 1: General requirements
    【国际标准分类号(ICS)】 :31电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :L04基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2022-10-20 | 实施时间: 2023-01-01
  • SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求 现行
    译:SJ/T 11769-2020 Electronic component low-frequency noise parameter testing method - General requirements
    适用范围:适用于电子元器件1 Hz~300 kHz 频率范围内的噪声参数测试
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L04基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2020-12-09 | 实施时间: 2021-04-01
  • SJ/T 11707-2018 硅通孔几何测量术语 现行
    译:SJ/T 11707-2018 SJ/T 11707-2018 Thin-film interconnect technology - Geometric measurement terminology for through-silicon vias
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.020电子元器件综合 【中国标准分类号(CCS)】 :L04基础标准与通用方法
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2018-02-09 | 实施时间: 2018-04-01