适用范围：本文件规定了高纯锗γ谱仪（以下简称“谱仪”)的分类、技术要求,描述了试验方法，同时对检验规则、标志、随行文件、运输及贮存进行了规定。 本文件适用于具有同轴型半导体探测器（以下简称“同轴型”)的高纯锗γ谱仪的生产、销售、管理和检测等。用于特殊或定制场景的其他类型高纯锗γ谱仪参考使用。

适用范围：本标准规定了表示模拟计数率表工作性能的常用术语和特性，并建立一套验证其特性的测试方法。 本标准适用于普通测量范围（0.1 s -1～10 6 s -1）内的线性模拟计数率表和对数模拟计数率表。模拟计数率表（以下可简称率表）可以是单独的仪器或是其他仪器的一部分。