适用范围：本文件界定了脉冲激光时域主要参数的术语和定义，描述了其主要参数特性，规定了测量条件和测量方法。 本文件适用于持续时间在3 fs～0.25 s范围内的脉冲激光时域主要参数测量，脉冲宽度0.25 s以上的激光参照执行。

适用范围：本文件规定了激光装置的文件在度量单位、基本技术参数、为用户提供的其他信息以及标识和标签方面的要求。 本文件适用于集成在激光产品中的激光系统以及集成在激光系统或加工机中的激光装置。 本文件不适用于完整的（即用型）激光产品、具有防护外壳且没有向外部发射激光的嵌入式激光产品或包含激光装置的激光加工机。本文件也不适用于非相干灯和其他类似光源，如LED。 注：本文件中激光产品是指符合IEC 60852-1分类的所有激光产品（包括GB/T 15313中定义的激光二极管和激光装置）。

适用范围：本文件规定了可穿戴设备的光辐射安全一般要求，包括危险类别、安全评估以及风险控制措施等。本文件适用于发射波长为200 nm~3 000 nm非相干光的可穿戴设备。注： 本文件不适用于2岁以下儿童、对光照敏感的皮肤(如开放性伤口)等人群使用的可穿戴光辐射设备。

适用范围：本文件规定了溴化钾光学元件（以下简称溴化钾）的技术要求、试验方法、检验规则及包装、标志、运输及贮存等要求。 本文件适用于溴化钾光学元件的制造与验收。

适用范围：本标准规定了光通信用高速直接调制激光器及其组件的分类和测量方法。 本标准适用于光传送网、光接入网及数据中心等光通信系统中所用高速直接调制激光器及其组件的光电特性测量，模拟光通信系统和其他光系统中所用激光器及其组件的光电特性测量也可参考使用。

适用范围：GB/T 39771的本部分规定了半导体发光二极管（以下简称LED）的光辐射安全的一般要求、测试要求、测试方法。 本部分适用于光辐射波长为近紫外和可见光区域（300 nm～780 nm）的单芯片或多芯片LED。

适用范围：GB/T 39771的本部分规定了半导体发光二极管(以下简称LED)的光辐射安全要求与危险等级分类方法。 本部分适用于光辐射波长为近紫外和可见光区域(300 nm~780 nm)的单芯片或多芯片LED。

适用范围：本标准规定了消费类激光指示器产品的光辐射安全要求，主要包括安全分类、可达发射和危害评估及控制措施。 本标准适用于标称波长在400 nm～700 nm可见光范围内的消费类激光指示器产品（以下简称激光指示器）生产、检测、销售和使用。

适用范围：GB/T 30117的本部分规定了投影仪发射光辐射的光生物安全要求。GB/T 30117的本部分不涉及诸如电气、机械或火灾隐患等其他危害。

适用范围：GB/T 30117的本部分规定了专业场所内强脉冲光(IPL)设备的安全使用准则。 本部分对接触到IPL的治疗、操作、维修及其他人员的安全控制措施提出了建议。为了便于对防护原则的理解，简要描述了IPL设备或装置的工程控制措施。

适用范围：本标准规定了激光光学元件吸收率测试方法的术语和定义、符号和度量单位、测试条件、测试原理、测试流程、计算方法和测试报告。 本标准适用于激光光学元件吸收率的测试。

适用范围：本标准规定了视频监控系统主动照明部件（以下简称“补光灯”）的光辐射一般要求、危险类别、评估要求和控制措施。 本标准适用于发射波长为200 nm~1 400 nm的LED、氙灯等补光灯的研制、安装维护和使用。其他类型补光灯可参照本标准执行。

适用范围：本标准规定了微通道板的术语和定义、试验通用要求和试验方法。 本标准适用于微通道板。

适用范围：GB/T 37396的本部分规定了近红外到中红外波段,波长从2.1 μm~15 μm光谱范围内的激光光学元件的要求。 本部分适用于激光器和激光相关设备使用的标准光学元件,包括平面、平面球面和球面基片。

适用范围：GB/T 37396的本部分规定了紫外、可见和近红外波段，波长从170 nm至2 100 nm光谱范围内的激光光学元件的要求。 本部分适用于激光器和激光相关设备使用的标准光学元件，包括平面、平面球面和球面基片。

适用范围：本标准规定了激光光学元件反射率的测量方法。 本标准适用于激光光学元件高于99%的反射率的精确测量。

适用范围：本标准规定了有机发光二极管（OLED)照明优先采用的术语和定义、符号和单位。 本标准适用于以OLED作为光源的照明领域，包括照明领域上中下游，如材料、结构、工艺、设备和性能等。

适用范围：本标准界定了半导体照明的通用术语。 本标准适用于采用固体发光材料为光源的照明领域。

适用范围：本标准规定了发光二极管芯片(以下简称“芯片”)光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测条件和点测方法。本标准适用于批量生产的可见光发光二极管正装芯片和薄膜芯片的检测方法。紫外光、红外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。本标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试。