适用范围：GB/T 15445的本部分是为累积粒度分布服从对数正态概率分布的颗粒系统的粒径表征方法提供一些理论依据，可以明确地验证用粒度分布函数所作的计算。 本部分中解释了对数正态概率坐标纸的设计以及矩、中位径、平均粒径和体积-比表面积等的计算方法。对数正态概率分布常常适用于表述任何维度的累积粒度分布。 本部分适用于以个数、长度、面积、体积或质量为基准所表征的累积分布，可以由一系列平行线表示，且是从其中任何一条已知线的位置均可以确定其他所有线的位置。

适用范围：GB/T 26645的本部分规定了采用液体重力沉降法分析微粒材料粒度分布的方法，典型的粒径测量范围为0.5μm～100μm。 本部分适用于浆料或可在液体中分散的微粒材料的粒度分布的测量。通常情况下分散相和连续相之间的密度差是正的，但也可用于测量比分散相密度低的乳状液滴的粒度分布。颗粒在悬浮液中不能发生物理或化学的变化。对危险材料需要采用基本防护措施，尤其是使用低沸点的挥发性液体作为连续相时，分析者要先做防爆试验。

适用范围：GB/T 26647的本部分给粒度测定装置的选择和操作提供指导，这类装置通过测定在气相中或液相中光与单个微粒的相互作用现象来测定粒度与微粒数目。测得的粒度为光学等效粒度，它等效于测量体系作出同样响应时标准微粒的粒度。这种定义需要使用粒度已知的标准颗粒校准粒度仪。 本部分适用于直径从约0.05微米到几毫米范围的微粒。约0.05μm～20μm范围内的气载微粒主要由光散射法测定。较大的微粒可由光消减传感器测定。对于液载微粒，尺度在0.05微米到几微米范围内的微粒可由光散射法测定。1微米到毫米尺度范围的微粒由光消减法测定。任何粒度仪所能测定的尺度范围通常接近100∶1，当大于最小微粒尺度约100倍的微粒以较好的分辨力测定时，得到的结果大于或等于仪器最大尺度通道的阈值尺度。 本部分考虑的是在粒度仪的光敏感区内由于单个微粒的存在所引起的收集光通量响应的变化。由于这个原因，那些依靠光与微粒相互作用产生的数据，仅指示微粒运动程度的仪器不在本部分内讨论。

适用范围：GB/T 21650的本部分规定了通过低温气体吸附测定微孔材料的微孔体积和比表面积［1］～［7］的方法。 本部分适用于IUPAC分类的Ⅰ、Ⅱ、Ⅳ或Ⅵ型等温线（见GB/T 21650.2—2008中的图1和ISO 9277:1995），本部分不适用于化学吸附或吸收。

适用范围：本标准规定了作为试验筛筛分介质的金属丝编织网、穿孔板和电成型薄板的筛孔的基本尺寸。 本标准适用于金属丝编织网、穿孔板和电成型薄板。 本标准中金属丝编织网和电成型薄板的筛孔的基本尺寸，小于或等于32 μm的，均采用R′10系列作为主要尺寸系列。 鉴于尺寸小于32 μm的相邻基本尺寸之间的间隔很小，因此，对R′10系列基本尺寸的选择作了限制。

适用范围：GB/T 15445的本部分是以直方分布，频度和累计分布图形来表示粒度分析的专用规范。同时规定了由测量数据求得上述各种分布应遵循的标准术语。 本部分适用于任何粒度范围的固体颗粒、液滴或气泡的分布图形表征。 附录A给出了粒度分析结果图形表述的示例。

适用范围：本标准规定了颗粒系统采用的专用术语。 本标准适用于任何固体颗粒、液滴、气泡、液固、气固或气液的颗粒系统。

适用范围：本标准规定了颗粒粒度分布的幂函数表征方法。 本标准适用于表示颗粒系统粒度的累积分布。

适用范围：本部分描述了根据Ritter和Drake［1］［2］发展的压汞法来评价固体的孔径分布和孔中的比表面。它是一种可比较的方法。由于汞污染，本方法通常是破坏性的。测得的渗透到孔或空隙中汞的体积是与孔径相关的静压力的函数。本部分适用于研究大多数非润湿多孔材料。

适用范围：GB/T 19077.1的本部分规定了通过对光的角分布散射图的分析，测定两相颗粒体系的粒度分布。 本部分适用于测定粉体、喷雾、烟雾、气溶胶、乳液和液体中的气泡等。不对具体仪器测定粒度提出具体要求。 本部分适用的粒度范围从大约0.1 μm～3 mm。

适用范围：GB/T 21649.1的本部分规定了利用静态图像分析法测定颗粒粒度分布的方法。本部分适用于测定能够从显微镜中获得图像的颗粒的粒度分布。 本部分测量的颗粒尺寸范围是小于10∶1的窄分布。为了获得可重复的体积平均直径，对符合正态分布的、标准偏差为1.6的分布，需要测量6 000多个颗粒。如果要得到可靠的百分数值时，如D90或其他百分数值，则必须至少测量61 000个颗粒。详见附录A。