适用范围：本文件规定了楔体尺寸与公差标注的方法。 注：为了简便起见，本文件仅对截断楔体进行了说明，但也适用于其他类型的楔体。

适用范围：本文件规定了楔体的术语和定义，三个角度系列（120°～0°30′），一个斜度系列（1∶10～1∶500）。本文件适用于一般机械工程。

适用范围：本标准规定了产品几何技术规范（GPS）的长度测量中温度影响引起误差的确定和修正程序，以及温度影响引入的测量不确定度分量评定的程序。 本标准适用于工业领域长度测量。 注1：温度影响包括：平均温度是标准参考温度；平均温度不是标准参考温度，平均值考虑了时间和空间的变化；温度随时间变化。 注2：需考虑三种情况：平均温度是标准参考温度；平均温度不是标准参考温度，用户进行修正；平均温度不是标准参考温度，用户不进行修正。 注3：根据GB/T 18779.2的分析，热效应是引起测量不确定度和形成系统误差的重要因素。本标准通过更加专业详细的温度影响分析，阐明温度影响是测量不确定度的重要来源，也是形成系统误差的重要因素。虽然没有对温度梯度进行详细讨论，但在附录A中提供了一些资料。

适用范围：GB/T 18779的本部分规定了在GB/T 18779.1中理论理想判定规则下的主要假设。给出了这些规则应是缺省规则的原因，以及在运用不同判定规则前需考虑的因素。 本部分适用于GPS通用标准(见GB/T 20308)中涉及的所有规范，即由SAC/TC 240编制的标准，包括工件规范(通常以规范限形式给出)和测量设备规范(通常以最大允许误差形式给出)。

适用范围：本标准给出了按照GB/T 16857.5检验坐标测量机时评估检测不确定度方法的指南。 本标准适用于配置接触式探测系统，使用离散点探测模式的坐标测量机。

适用范围：本标准给出了使用连续变波长、变角度的光谱型椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法。 本标准适用于测试硅基底上厚度均匀、各向同性、10 nm~1 000 nm厚的二氧化硅薄层厚度，其他对测试波长处不透光的基底上单层介电薄膜样品厚度测量可以参考此方法。

适用范围：本标准规定了微剂量X射线安全检查设备测试体的术语和定义、计量性能要求、通用技术要求、材料性能确认、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果表达及复校时间间隔。 本标准适用于微剂量X射线安全检查设备测试体的首次校准、后续校准及使用中检验。

适用范围：本标准规定了IC卡光标测试系统的计量性能要求、通用技术要求、校准条件、校准项目和校准方法。 本标准适用于IC卡光标测试系统的首次校准、后续校准和使用中检验。

适用范围：GB/T 24630的本部分规定了组成要素平面度的完整的规范操作集，即平面形各要素的几何特性。 本部分仅适用于所有组成要素的平面度轮廓。

适用范围：GB/T 24630的本部分规定了有关单一组成要素的平面度的术语和概念。 本部分适用于整个平面度轮廓。

适用范围：GB/T 24631的本部分规定了有关单一组成要素的直线度的术语和概念。 本部分仅适用于所有组成要素的直线度。

适用范围：GB/T 24631的本部分规定了组成要素直线度的完整的规范操作集，即直线形各要素的几何特性。 本部分仅适用于所有组成要素的直线度轮廓。 注： 圆柱面提取轴线的直线度在GB/T 24633.1（ISO/TS 121801） 和GB/T 24633.2（ISO/TS 121802）中进行规定。

适用范围：本标准规定了光滑工件尺寸检验的验收原则、验收极限、计量器具的测量不确定度允许值和计量器具选用原则。 本标准适用于使用通用计量器具，如游标卡尺、千分尺及车间使用的比较仪、投影仪等量具量仪，对图样上注出的公差等级为6级～18级(IT6～IT18)、公称尺寸至500 mm的光滑工件尺寸的检验。 本标准也适用于对一般公差尺寸的检验。

适用范围：GB/T 18779的本部分给出了关于测量不确定度的表述达成协议的方法和详细说明的程序，以帮助供、需双方解决依据GB 18779.1—2002判定合格与否时，解决由测量不确定度引起的争议，从而避免高额昂贵的争论。