国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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译：GB/T 17169-1997 Test method for the surface quality of polished silicon wafers and epitaxial wafers by optical-reflection【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H24金相检验方法发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1997-12-22 | 实施时间： 1998-08-01收藏
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