GB/T 13181-2024 固体闪烁体性能测量方法

ICS27.120.01

CCSF80

中华人民共和国国家标准

/—

GBT131812024

代替/—

GBT131812002

固体闪烁体性能测量方法

Methodsoferformancemeasurementforsolidscintilators

p

2024-05-28发布2024-12-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT131812024

目次

前言…………………………Ⅴ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

、………………………

3术语定义和缩略语1

3.1术语和定义…………………………1

3.2缩略语………………4

4通则………………………5

4.1测量环境条件………………………5

4.2测量系统……………5

4.3测量要求……………6

4.4安全要求……………7

5相对光输出………………7

()………

5.1脉冲法全吸收峰法或康普顿分布边缘法7

5.2电流法………………8

5.3封装闪烁体的光输出………………9

5.4光输出不均匀性……………………9

6相对能量转换效率………………………13

()………

6.1脉冲法全吸收峰法或康普顿分布边缘法13

6.2电流法………………13

7α-比……………………14

β

7.1测量原理……………14

7.2测量装置……………14

7.3测量步骤……………14

7.4数据处理……………14

8固有脉冲幅度分辨率……………………15

8.1测量原理……………15

8.2测量装置……………15

8.3测量步骤……………15

8.4数据处理……………16

8.5封装闪烁体的固有脉冲幅度分辨率………………16

9闪烁光衰减长度…………………………16

9.1对待测闪烁体的要求………………16

9.2测量原理……………16

Ⅰ

/—

GBT131812024

9.3测量装置……………17

9.4脉冲法………………17

9.5电流法………………17

9.6其他说明……………18

10发射光谱………………18

10.1测量的波长范围…………………18

10.2测量原理…………………………18

10.3测量装置…………………………18

10.4测量步骤…………………………19

10.5数据处理…………………………20

10.6其他测量方法……………………20

11时间特性………………20

11.1闪烁衰减时间……………………20

11.2余辉………………24

11.3符合分辨时间……………………25

12辐照硬度………………27

12.1测量原理…………………………27

12.2测量装置…………………………27

12.3测量步骤…………………………27

12.4数据处理…………………………27

13自身放射性水平………………………28

13.1测量原理…………………………28

13.2测量装置…………………………28

13.3测量步骤…………………………29

13.4数据处理…………………………29

14-γ比和n-γ比………………………29

β

14.1-γ比………………29

β

14.2n-γ比………………30

15温度效应………………31

15.1测量原理…………………………31

15.2测量装置…………………………31

15.3测量方法…………………………32

、………………………

16闪烁体阵列的不均匀性光串扰33

16.1闪烁体阵列的不均匀性…………33

16.2闪烁体阵列的光串扰……………34

()……………

附录资料性放射性同位素源主要特征

A36

()………………

附录资料性闪烁体标准样品的尺寸

B37

Ⅱ

/—

GBT131812024

()……………

附录资料性脉冲法测量系统的非线性

C39

()……………

附录资料性电流法测量系统的非线性

D42

()…………………

附录资料性测量系统的不稳定性

E44

参考文献……………………45

Ⅲ

/—

GBT131812024

前言

/—《:》

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GBT1.120201

起草。

/—《》,/—,

本文件代替GBT131812002闪烁体性能测量方法与GBT131812002相比除结构调整

,。

和编辑性改动外主要技术变化如下

)(,)。

更改了标准适用范围见第章年版的第章

a120021

)“”()、“”()、“”()、“”(

b增加了闪烁见3.1.1封装闪烁体见3.1.6光输出不均匀性见3.1.11α-比见

β

)、“”()、“”()、“”()、“

3.1.13余辉见3.1.15符合分辨时间见3.1.16辐照硬度见3.1.21自身放射性

”()、“”()、“”()、“”()、

水平见3.1.22探测器效率见3.1.23-γ比见3.1.24n-γ比见3.1.25闪烁体

β

()、“”()、“”()

阵列见3.1.27闪烁体阵列的不均匀性见3.1.28闪烁体阵列的光串扰见3.1.29等

术语和定义。

)、(,)。

c更改了交流供电电压交流供电频率的标准试验条件见4.12002年版的4.1

),“/”,

d更改了对闪烁体标准样品的要求删除了符合GBT4077中的有关规定将对闪烁体标准

(,)。

样品尺寸的要求作为一个新增的资料性附录见4.2.3和附录B2002年版的4.2.3

)“”(,)。

更改了测量系统的不稳定性的要求见年版的和

e4.2.6.220024.2.6.35.1.2.3

)()。

f增加了物理量测量重复次数的说明见4.3.9

)“”(,)。

g更改了相对光输出的计算公式见5.1.42002年版的5.1.4

)“”“”

h删除了相对光输出和相对能量转换效率测量方法的数据处理中的测量误差方面的内容

(、)。

见年版的和

20025.1.45.2.46.4.2

)“”()。

i增加了封装闪烁体的光输出的测量方法见5.3

)“”()。

j增加了光输出不均匀性的测量方法见5.4

)“”()。

k增加了相对能量转换效率的脉冲法测量方法见6.1

)“”

l删除了相对能量转换效率测量方法中关于待测闪烁体与标样的发射光谱不同时应进行修正

()。

的内容见2002年版的6.4.2和附录D

)“”()。

增加了比的测量方法见第章

mα-7

β

)“”(,)。

n更改了固有脉冲幅度分辨率的数据处理方法见8.42002年版的7.4

)“”()。

o增加了封装闪烁体的固有脉冲幅度分辨率的测量方法见8.5

)“”(,);

更改了闪烁光衰减长度的测量方法见第章年版的第章增加了脉冲法测量方

p920028

();(,)。

法见9.4更改了数据处理的方法见9.5.22002年版的8.1.5

)“”(,),“”

更改了闪烁衰减时间的测量方法见版的第章直接示波法中增加了对光

q11.1200210

()()、(

电倍增管PMT的要求见11.1.2.2.3删除了扣除光电倍增管响应时间的内容见2002年

);“”()。

版的删除了平均波形取样示波法见年版的和

10.2.4200210.1.110.3

)“”()。

r增加了余辉的测量方法见11.2

)“”()。

s增加了符合分辨时间的测量方法见11.3

)“”()。

增加了辐照硬度的测量方法见第章

t12

)“”()。

增加了自身放射性水平的测量方法见第章

u13

)“”“”()。

增加了比和比的测量方法见第章

vβ-γn-γ14

)“”“”()。

增加了闪烁体阵列的不均匀性和闪烁体阵列的光串扰的测量方法见第章

w16

。。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

Ⅴ

/—

GBT131812024

本文件由全国核仪器仪表标准化技术委员会(/)提出并归口。

SACTC30

:、、()

本文件起草单位北京滨松光子技术股份有限公司国核自仪系统工程有限公司中核北京核仪

、。

器有限责任公司中核控制系统工程有限公司

:、、、、、、、、、

本文件主要起草人袁秀丽姚岁劳王丹妮阎珍德唐兆荣蒋李君高兴兵殷生华贾景光

、。

张志雄林德雨

本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为:

———年首次发布,年第一次修订;

19912002

———本次为第二次修订。

Ⅵ

/—

GBT131812024

固体闪烁体性能测量方法

1范围

、、、、

本文件描述了闪烁体的相对光输出相对能量转换效率α-比固有脉冲幅度分辨率闪烁光衰减

β

、、、、、、、

长度发射光谱时间特性辐照硬度自身放射性水平β-γ比和n-γ比温度效应闪烁体阵列的不均匀

、。

性光串扰等的测量方法

本文件适用于常用固体闪烁体的性能测量。

2规范性引用文件

。,

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

,;,()

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

本文件。

密封放射源一般要求和分级

GB4075

/—核仪器和核辐射探测器质量检验规则

GBT102572001

GB18871电离辐射防护与辐射源安全基本标准

/封装闪烁体光输出和固有分辨率的测量方法

GBT28544

、

3术语定义和缩略语

3.1术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1.1

闪烁scintillation

、。

由分子退激引起的持续时间约几微秒或更短的闪光

[:/—,]

来源GBT4960.620082.3.1

3.1.2

闪烁物质scintillatinmaterial

g

,。

在电离辐射作用下能以闪烁方式发出光辐射的物质

[:/—,]

来源GBT4960.620082.3.7

3.1.3

闪烁体scintillator

用一定数量的闪烁物质做成适当形状的闪烁探测元件。

[:/—,]

来源GBT4960.620082.3.10

3.1.4

[][]

闪烁体的入射窗entrancewindowofascintillator

闪烁体中使被测的电离辐射容易透过的部分。

1