SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法
SJ 21343-2018 Measuring methods for microwave components and devices's scattering parameter at cryogenic temperature
行业标准-电子
中文(简体)
现行
页数：6页
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格式：PDF
基本信息
标准号
SJ 21343-2018
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
2018-01-18
实施日期
2018-05-01
发布单位/组织
-
归口单位
工业和信息化部电子第四研究院
适用范围
本标准规定了微波元器件低温环境下S参数的测试方法。本标准适用手微波元器件(包括放大器芯片、场效应晶体管、片式电容、片式电感、片式电阻）低温环境下的S参数测试
发布历史
-
2018年01月
文前页预览
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十六研究所
- 起草人：
- 何川、王自力、纪斌、吴志华
- 出版信息：
- 页数：6页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
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