GB/T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

GB/T 43227-2023 Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire

国家标准 中文简体 现行 页数:10页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 43227-2023
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
适用范围
本文件规定了宇航用集成电路内引线采用气相沉积保护膜工艺后的气相沉积保护膜检验方法、电力学环境试验方法。
本文件适用于完成气相沉积保护膜的宇航用集成电路的试验。

发布历史

研制信息

起草单位:
北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
起草人:
赵元富、姚全斌、林鹏荣、冯小成、荆林晓、李洪剑、付明洋、林建京、曹燕红、刘思嘉、刘征宇
出版信息:
页数:10页 | 字数:21 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS49.040

CCSA29

中华人民共和国国家标准

/—

GBT432272023

宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜

试验方法

Testmethodsforsacevaourdeositionrotectivefilmon

pppp

semiconductorwire

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT432272023

前言

/—《:》

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