GB/T 26332.1-2010 光学和光学仪器 光学薄膜 第1部分:定义

GB/T 26332.1-2010 Optics and optical instruments—Optical coatings—Part 1:Definitions

国家标准 中文简体 被代替 已被新标准代替,建议下载标准 GB/T 26332.1-2024 | 页数:12页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 26332.1-2010
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2011-01-14
实施日期
2011-06-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
中国机械工业联合会
适用范围
GB/T 26332的本部分叙述了除眼科光学(眼镜)之外的所有镀膜的光学元器件及基片的镀膜表面,并制定了相关参数的标准表述,定义了表面特性参数及其检验、检测方法,而不说明其加工方法。
本部分定义了与光学薄膜相关的术语。这些术语分为4类:基本定义、按功能定义薄膜、常见的薄膜缺陷定义和其他定义。

发布历史

研制信息

起草单位:
沈阳仪表科学研究院、沈阳汇博光学技术有限公司、浙江大学、杭州科汀光学技术有限公司、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心、杭州照相机械研究所
起草人:
阴晓俊、费书国、高鹏、王瑞生、赵帅锋、章岳光、顾培夫、马敬、金秀、杨文华、徐秋玲、杜健、虞仲晓
出版信息:
页数:12页 | 字数:20 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS17.180

N30

a雪

中华人民共和国国家标准

921

1-1:1994

GB/T26332.1m2010/ISO

光学和光学仪器光学薄膜

第1部分:定义

and

Opticsopticalinstruments--Opticalcoatings--

Part

1:Definitions

(IS09211—1:1994,IDT)

201

1-01-14发布

宰瞀鳃紫瓣警糌瞥翼发布中国国家标准化管理委员会促19

9211—1:1994

cB/'r26332.1—2010/ISO

目次

前言…………·……·······…··……………”Ⅲ

1范围………………………1

2规范性引用文件………………··…·…···…···…·…………·………·…1

3术语和定义……………···1

4按功能定义薄膜…………·…·…………-4

5常见的薄膜缺陷定义…………………···5

6其他定义…………………6

附录A(资料性附录)常见薄膜缺陷类型图解…………8

9211-1:1994

GB/T26332.1—2010/iso

刖置

GB/T

26332《光学和光学仪器光学薄膜》分为4个部分:

——第1部分:定义

——第2部分:光学特性

——第3部分:环境适应性

——第4部分:规定的试验方法

本部分为Gg/T26332的第1部分。

本部分等同采用ISO9211—1:1994(光学和光学仪器光学薄膜第1部分:定义》(英文版)。

本部分采用国际标准的方法为翻译法。

本部分的附录A为资料性附录。

本部分由中国机械工业联合会提出并归口。

本部分起草单位:沈阳仪表科学研究院、沈阳汇博光学技术有限公司、浙江大学、杭州科汀光学技术

有限公司、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心、杭州照相机械研究所。

本部分主要起草人:阴晓俊、费书国、高鹏、王瑞生、赵帅锋、章岳光、顾培夫、马敬、金秀、杨文华、

徐秋玲、杜健、虞仲晓。

26332.1—2010/璐o921I-I:1994

GB/T

光学和光学仪器光学薄膜

第1部分:定义

1范围

GB/T26332的本部分叙述了除眼科光学(眼镜)之外的所有镀膜的光学元器件及基片的镀膜表

面,并制定了相关参数的标准表述,定义了表面特性参数及其检验、检测方法,而不说明其加工方法。

本部分定义了与光学薄膜相关的术语。这些术语分为4类:基本定义、按功能定义薄膜、常见的薄

膜缺陷定义和其他定义。

2规范性引用文件

26332的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文

下列文件中的条款通过GB/T

件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成

协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本

部分。

10110—7:1996,NEQ)

GB/T1185--2006光学零件表面疵病(IsO

GB

3102.6—1993光及有关电磁辐射的量和单位

GB/T6286:1982,NEQ)

8322--2008分子吸收光谱法术语(ISO

ISO9211—4:2006光学和光学仪器光学薄膜第4部分:规定的试验方法

ISO10110—8:1997光学和光学仪器光学元件和系统制图准备第8部分:表面结构

IEC50(845):1987国际电工词汇845章:照明

Publication

CIE38:1977材料的辐射测量和光度特性及相应测量方法

3术语和定义

下列术语和定义适用于本部分。

treatment

3.1镀膜表面surface

3.1.1

ofandsubstrates

treatment

元件和基片的镀膜表面surfacecomponents

在光学元件表面“镀膜”,能够改变光学元件的光学、物理或化学特性。作为所镀薄膜载体的光学元

件称为“基片”。

理想的基片是几何完美和光学均质的,应将基片及其表面作为一个整体进行检验测量。

光在镀膜表面的透射与反射方向是由光学薄膜、入射介质及出射介质共同决定的。

3.1.2

medium

入射介质incident

光射人薄膜前经过的介质。

3.1.3

medium

出射介质emergent

光射出薄膜后进入的介质。

注:镀有薄膜的基片可以是人射介质也可以是出射介质,区别在于光通过基片和薄膜的先后顺序。

9211-1:1994

GB/T26332.1—2010/ISO

3.2

ofUcoatedsurface

镀膜表面的光学特性opticalproperties

镀膜表面的光学特性可以用分光光度值来描述,它与电磁波传播的辐射能(辐射或发光)相关,并为

波长、入射角、偏振态、空间分布(例如,散射)的函数。

注;波长(^)可用波数(一)代替。建议波长单位为纳米(nm)或微米(卢m)

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