GB/T 44599-2024 天线测量场地检测方法

ICS33100

CCSL.06

中华人民共和国国家标准

GB/T44599—2024

天线测量场地检测方法

Testingmethodforantennameasurementfields

2024-09-29发布2025-01-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T44599—2024

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

不同类型天线测量场地检测要求

4………………………2

远场测量场地

4.1………………………2

近场测量场地

4.2………………………2

紧缩场测量场地

4.3……………………3

不同类型天线测量场地检测方法

5………………………3

远场测量场地

5.1………………………3

近场测量场地

5.2………………………11

紧缩场测量场地

5.3……………………15

附录资料性自由空间电压驻波比法

A()………………17

附录资料性外推法

B()…………………20

参考文献

……………………23

Ⅰ

GB/T44599—2024

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

。

本文件由全国通信标准化技术委员会归口

(SAC/TC485)。

本文件起草单位中国信息通信研究院中国移动通信集团有限公司中国通信标准化协会中国电

:、、、

信集团有限公司中国联合网络通信集团有限公司京信通信技术广州有限公司华为技术有限公司

、、()、、

中国信息通信科技集团有限公司江苏亨鑫科技有限公司佛山市粤海信通讯有限公司

、、。

本文件主要起草人吴翔赵杰韩冬孙善球何俊涛石萌张宇张涛李艳芬华彦平郑洪振

:、、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/T44599—2024

天线测量场地检测方法

1范围

本文件规定了不同类型天线测量场地的检测要求描述了天线测量场地的检测方法

,。

本文件适用于工作频段为的天线测量场地的检测其他频段的天线测量

400MHz~6000MHz。

场地的检测可参照使用

。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法

GB/T12190

移动通信系统室内分布无源天线

YD/T2866

移动通信系统多频段基站无源天线

YD/T2867

移动通信系统无源天线测量方法

YD/T2868

3术语和定义

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

YD/T2866、YD/T2867、YD/T2868。

31

.

微波暗室microwaveanechoicchamber

内面安装电波屏蔽体和吸波材料形成在一定频率范围内使微波反射杂散干扰信号下降到可接

,、、

受程度的准自由空间的天线测试环境且经过专门设计的封闭室

。

32

.

静区quietzone

在微波暗室内电磁波的反射控制到设计水平的电波静空区域

,。

33

.

反射电平reflectivitylevel

微波暗室静区内等效反射信号与直射信号之比

。

注通常用分贝表示

:(dB)。

34

.

口径场幅度起伏amplituderippleintestingaperture

电波静区内垂直于直射波方向的测试口径面上由于暗室场地反射引起的接收电平的纹波起伏

,,。

注分为水平极化电平和垂直极化电平两种情况

:。

35

.

口径场幅度锥削度amplitudetaperintestingaperture

电波静区内垂直于直射波方向的测试口径面上由于发射喇叭实际方向图离开瞄准轴角度后的电

,,

平逐渐降低作用在有限的测试收发距离并引起接收电平的逐渐降低程度

。

1

GB/T44599—2024

注分为水平极化电平和垂直极化电平两种情况

:。

36

.

口径场水平/垂直电平差amplitudedifferencebetweenhorizontalpolarizationandverticalpolari-

zationintestingaperture

在直射波来波方向上收发方式按水平极化时和垂直极化时的接收电平的差别

,。

37

.

方向图比较法antennapatterncomparisontechnique

通过在暗室静区的不同位置测量得到的方向图差异反映反射电平值的方法

。

38

.

紧缩场幅相测试法amplitude&phasetesttechniqueofcompactrange

通过测量静区口径面上的幅度的场强及相位来评价紧缩场性能的方法

。

注探头在微波暗室静区平面内移动获取静区口径面上的幅度的场强及相位信息通过数据处理分析获得静区内

:,

的幅相信息其数值反映静区口径面上的准平面波的性能优劣

,。

4不同类型天线测量场地检测要求

41远场测量场地

.

411暗室屏蔽性能检测

..

应检测远场测量场地的暗室屏蔽性能测量方法应符合的规定

。GB/T12190。

412静区反射电平性能检测

..

应检测远场测量场地的静区反射电平性能宜采用自由空间电压驻波比法进行测量测量方法见

。,

5.1.1。

413口径场性能检测

..

应检测远场测量场地的口径场性能包括口径场幅度起伏口径场幅度锥削度和口径场水平垂直

,、/

电平差宜采用自由空间电压驻波比法进行测量测量方法见

。,5.1.2。

414静区口径场交叉极化性能检测

..

应检测远场测量场地的静区口径场的交叉极化性能测量方法见

,5.1.3。

415天线增益检测

..

应检测远场测量场地的天线增益可采用外推法三天线法增益比较法进行测量测量方法

。、、,

见

5.1.4。

42近场测量场地

.

421暗室屏蔽性能检测

..

应检测近场测量场地的暗室屏蔽性能测量方法应符合的规定

。GB/T12190。

422静区反射电平性能检测

..

应检测近场测量场地的静区反射电平性能宜采用方向图比较法进行测量测量方法见

。,5.1.2。

2

GB/T44599—2024

423探头幅相性能检测

..

对于近场测量场地的多探头测量系统应分别对每个探头进行探头幅相性能检测包括幅度均匀性

,,

和相位均匀性每个探头对相同输入的响应应一致测量方法见

。,5.2.2。

424探头交叉极化性能检测

..

对于近场测量场地的多探头测量系统应分别对每个探头进行探头交叉极化性能检测测量方法见

,,

5.2.3。

425天线增益检测

..

应检测近场测量场地的天线增益可采用外推法三天线法增益比较法进行测量测量方法见

。、、,

5.2.4。

43紧缩场测量场地

.

431暗室屏蔽性能检测

..

应检测紧缩场测量场地的暗室屏蔽性能测量方法应符合的规定

。GB/T12190。

432静区反射电平性能检测

..

应检测紧缩场测量场地的静区反射电平性能宜采用自由空间电压驻波比法进行测量测量方法

。,

见

5.3.1。

433静区幅相性能检测

..

应检测紧缩场测量场地的静区幅相性能应采用紧缩场幅相测试法进行测量测量方法见

。,5.3.2。

434静区口径场交叉极化性能检测

..

应检测紧缩场测量场地的静区口径场的交叉极化性能测量方法见

,5.3.3。

435天线增益检测

..

应检测紧缩场测量场地的天线增益可采用外推法增益比较法进行测量测量方法见

。、,5.3.4。

5不同类型天线测量场地检测方法

51远场测量场地

.

511反射电平检测方法

..

5111测试前准备

...

51111基本要求

....

静区反射电平采用自由空间电压驻波比法检测其数据处理原理和方法见附录

。A。

测量所用设备应满足频率范围要求并满足输入输出阻抗要求测量系统一般是由信号源

,50Ω/。、

接收设备天线和测量扫描架等设备组成测量系统应保证接收设备接收到的信号高于噪声并

、,10dB,

保证接收信号在接收设备的线性范围内网络分析仪可作为代替的信号源和接收设备的组合

。。

在测量开始前所用设备应按设备使用说明书的要求预热并尽可能将影响测量的无关设备和设施

,,

3

GB/T44599—2024

移开以减小对测量结果的影响

,。

51112信号源

....

信号源频率稳定度应优于-8幅度稳定度应优于最大输出幅度宜不小于

10/d,0.05dB/h,10dBm。

51113接收设备

....

接收设备的幅度测量稳定度优于幅度分辨力优于

0.05dB/h,0.05dB。

51114源天线

....

在鉴定周期内源天线的尺寸和辐射特性与场地鉴定所使用的源天线一致

,。

51115接收天线

....

接收天线在实际测量频率点的驻波比应小于

1.5。

接收天线的增益尽量采用增益为左右的喇叭天线

15dBi。

5112测量原理

...

51121自由空间电压驻波比法测量原理

....

微波暗室静区反射电平选择自由空间电压驻波比法反射电平的测量应在天线水平极化和垂直极

,

化两种情况下进行

。

自由空间电压驻波比法的测量原理是基于微波暗室中存在直射信号和反射信号微波暗室中空间

,

任意一点的场强是直射信号和反射信号的矢量和在空间形成驻波驻波的数值大小反映了微波暗室内

,,

反射电平的大小可通过测量空间驻波来确定暗室静区内的反射电平

,。

51122测量行程线的一般选择

....

在微波暗室静区内选择若干条直线测量时探测天线以一定的指向沿这些直线运动这些直线被称

,,

为测量行程线一般选择三个方向上直线作为行程线微波暗室的纵轴方向微波暗室横截面水平方向

。:、

和垂直方向分别称之为纵向行程线横向行程线垂直行程线图给出了典型的静区选取行程线的

,、、。1

示意图设待测的微波暗室静区中心为O最简单的测量行程线为穿过静区中心O的纵向行程线Z

。,1

Z横向行程线XX和垂直行程线YY根据实际需要和测量时间的许可还可选择其他测量行

2、1212。

程线

。

4

GB/T44599—2024

标引序号说明

:

发射源

1———;

静区中心

2———;

横向行程线

3———;

纵向行程线

4———;

垂直行程线

5———

静区边缘

6———。

图1典型的静区选取行程线示意图

51123天线指向和参考方向

....

511231天线指向

.....

将水平面方向图波束宽度中心指向定义为天线指向

3dB。

511232参考方向

.....

从微波暗室上方俯视参考方向定义为在暗室静区中心位置指向发射源的方向并将参考方向定义

,,

为方位角方向和俯仰角的方向方位角以顺时针方向为正向俯仰角以向上方向为正向下方向

0°0°,,,

为负

。

51124暗室方位区域的划分

....

图为典型的微波暗室方位划分示意图从微波暗室上方俯视在暗室静区中心位置向暗室内区

2。,

域的四个角连线将暗室分为四个方位区域其他微波暗室可根据实际情况参照典型

,A1、A2、A3、A4。

情况划分方位区域

。

图2典型暗室方位区域划分示意图

5

GB/T44599—2024

51125测量行程线的选取

....

511251纵向行程线上探测方向的选取

.....

进行纵向行程线测量时接收天线仅改变方位角俯仰角始终保持方向

,,0°。

纵向行程线测量时在区域内选择天线指向天线指向应包含五个

,A2,150°、165°、180°、195°、210°

方位角方向

。

511252横向行程线上探测方向的选取

.....

进行横向行程线测量时接收天线仅改变方位角俯仰角始终保持方向

,,0°。

横向行程线测量时在和区域内选择天线指向天线指向应包含

,A1A3,15°、30°、45°、60°、90°、

十二个方位角方向

120°、240°、270°、300°、315°、330°、345°。

511253垂直行程线上探测方向的选取

.....

进行垂直行程线测量时接收天线仅改变俯仰角方位角始终保持方向

,,0°。

垂直行程线测量时在俯仰角和两个天线指向上进行测量

,-45°45°。

微波暗室中对于传播路径上的主体部分的横截面属于宽度和高度相等的正方形设计方案时垂直

,,

行程线上的探测可省略直接采用横向行程线的结果

,。

5113测量过程

...

按以下步骤分别进行纵向横向垂直行程线测量

、、:

按图所示连接测量设备架设好天线

a)3,;

将信号源输出的频率调至某一个测量频率信号源输出幅度调至合适幅度

b),;

将接收天线的指向调至参考方向沿待测的行程线移动以不大于最小干涉波周期间隔记

c),1/8

录接收到的信号记为参考电平

,;

将接收天线的指向调至其他指向沿待测的行程线移动以不大于最小干涉波周期间隔记

d),1/8

录接收到的信号

;

对每种天线极化方式重复步骤

e),b)~d);

在每个测量频率下重复步骤直至完成所有测量频率的测量

f),b)~e),。

图3自由空间电压驻波比法测量系统示意图

6

GB/T44599—2024

5114数据处理

...

暗室静区反射电平按公式计算公式详细的推导和说明见附录

()。()。

11DA

Eæ-+20ö

r

RAç110D÷

==+…………()

20lgE20lgè+20ø1

d110

式中

:

R反射电平单位为分贝

———,(dB);

E反射信号单