GB/T 44599-2024 天线测量场地检测方法

GB/T 44599-2024 Testing method for antenna measurement fields

国家标准 中文简体 即将实施 页数:32页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 44599-2024
标准类型
国家标准
标准状态
即将实施
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2024-09-29
实施日期
2025-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国通信标准化技术委员会(SAC/TC 485)
适用范围
本文件规定了不同类型天线测量场地的检测要求,描述了天线测量场地的检测方法。
本文件适用于工作频段为400 MHz~6 000 MHz的天线测量场地的检测。其他频段的天线测量场地的检测可参照使用。

发布历史

文前页预览

研制信息

起草单位:
中国信息通信研究院、中国移动通信集团有限公司、中国通信标准化协会、中国电信集团有限公司、中国联合网络通信集团有限公司、京信通信技术(广州)有限公司、华为技术有限公司、中国信息通信科技集团有限公司、江苏亨鑫科技有限公司、佛山市粤海信通讯有限公司
起草人:
吴翔、赵杰、韩冬、孙善球、何俊涛、石萌、张宇、张涛、李艳芬、华彦平、郑洪振
出版信息:
页数:32页 | 字数:44 千字 | 开本: 大16开

内容描述

ICS33100

CCSL.06

中华人民共和国国家标准

GB/T44599—2024

天线测量场地检测方法

Testingmethodforantennameasurementfields

2024-09-29发布2025-01-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T44599—2024

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

不同类型天线测量场地检测要求

4………………………2

远场测量场地

4.1………………………2

近场测量场地

4.2………………………2

紧缩场测量场地

4.3……………………3

不同类型天线测量场地检测方法

5………………………3

远场测量场地

5.1………………………3

近场测量场地

5.2………………………11

紧缩场测量场地

5.3……………………15

附录资料性自由空间电压驻波比法

A()………………17

附录资料性外推法

B()…………………20

参考文献

……………………23

GB/T44599—2024

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出

本文件由全国通信标准化技术委员会归口

(SAC/TC485)。

本文件起草单位中国信息通信研究院中国移动通信集团有限公司中国通信标准化协会中国电

:、、、

信集团有限公司中国联合网络通信集团有限公司京信通信技术广州有限公司华为技术有限公司

、、()、、

中国信息通信科技集团有限公司江苏亨鑫科技有限公司佛山市粤海信通讯有限公司

、、。

本文件主要起草人吴翔赵杰韩冬孙善球何俊涛石萌张宇张涛李艳芬华彦平郑洪振

:、、、、、、、、、、。

GB/T44599—2024

天线测量场地检测方法

1范围

本文件规定了不同类型天线测量场地的检测要求描述了天线测量场地的检测方法

,。

本文件适用于工作频段为的天线测量场地的检测其他频段的天线测量

400MHz~6000MHz。

场地的检测可参照使用

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法

GB/T12190

移动通信系统室内分布无源天线

YD/T2866

移动通信系统多频段基站无源天线

YD/T2867

移动通信系统无源天线测量方法

YD/T2868

3术语和定义

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

YD/T2866、YD/T2867、YD/T2868。

31

.

微波暗室microwaveanechoicchamber

内面安装电波屏蔽体和吸波材料形成在一定频率范围内使微波反射杂散干扰信号下降到可接

,、、

受程度的准自由空间的天线测试环境且经过专门设计的封闭室

32

.

静区quietzone

在微波暗室内电磁波的反射控制到设计水平的电波静空区域

,。

33

.

反射电平reflectivitylevel

微波暗室静区内等效反射信号与直射信号之比

注通常用分贝表示

:(dB)。

34

.

口径场幅度起伏amplituderippleintestingaperture

电波静区内垂直于直射波方向的测试口径面上由于暗室场地反射引起的接收电平的纹波起伏

,,。

注分为水平极化电平和垂直极化电平两种情况

:。

35

.

口径场幅度锥削度amplitudetaperintestingaperture

电波静区内垂直于直射波方向的测试口径面上由于发射喇叭实际方向图离开瞄准轴角度后的电

,,

平逐渐降低作用在有限的测试收发距离并引起接收电平的逐渐降低程度

1