GB/T 15120.2-1994 识别卡 记录技术 第2部分:磁条
GB/T 15120.2-1994 Identification cards—Recording technique—Part 2:Magnetic stripe
基本信息
发布历史
-
1994年07月
-
2012年12月
研制信息
- 起草单位:
- 机械电子工业部电子标准化研究所、中国人民银行金融科技司
- 起草人:
- 邵坚、黄家英、王云生、刘钟、聂舒
- 出版信息:
- 页数:10页 | 字数:18 千字 | 开本: 大16开
内容描述
中华人民共和国国家标准
识别卡记录技术
GB/T151202一94
第2部分:磁条ISO7811/2-1985
Identificationcards-Recordingtechnique-
Part2:Magneticstripe
本标准等同采用国际标准ISO7811/2--1985识《别卡记录技术第2部分:磁条》。
0引言
本标准是描述下面第3章定义的识别卡的参数和国际交换中使用识别卡的一系列标准之一。
1主题内容与适用范围
本标准规定了识别卡上磁条(包括任何保护涂层)的特性、编码技术和编码字符集。这种磁记录用于
机器阅读。
2引用标准
GB/T14916识别卡物理特性
GB/T15120.4识别卡记录技术第4部分:只读磁道的第1磁道和第2磁道的位置
GB/T15120.5识别卡记录技术第5部分:读写磁道的第3磁道的位置
3术语
GB/T14916中给出的“识别长”的术语和下列术语适用于本标准。
3.1主标准primarystandard
保存在美国国家标准局(NBS)存贮柜的NBS主标准磁带(计算机幅度基准)。
注:与磁带一起提供的NBS证书给出了主标准和基准磁带SRM3200之间的关系校〔正系数)
3.2基准卡)‘referencecard
作为二级标准的基准卡,是一个由符合二级标准磁带(计算机幅度基准)SRM3200的磁条构成的
识别卡
注:首先用供货方提供的校正系数将二级基准卡校正到主标准,然后计算窗口的位置(见图5),
1)这些卡可以从德国物理技术研究院定购。
3.3磁通翻转fluxtransition
垂直于磁条表面最大磁通分量的位置。
3.4基准电流referencecurrentUR)
在给定的测试条件下,读出电压幅度等于密度为8ftpmm磁通翻转每毫米)的最大幅度的80%时
(见图5),基准卡上产生的最小记录电流幅度(方波)
3.5测试记录电流testrecordingcurrents
应使用基准电流(IR)的350%和500%处的两个测试记录电流(方波)。
国家技术监督局1994一07门6批准1995一03一01实施
GB/T151202一94
3UC平均信号幅度averagesignalamplitude
当以规定的记录密度用测试记录电流记录时,在卡的全部记录区测出的读出电压峰一峰值的平均
值
。
3.︻r夕基准信号幅度referencesignalamplitude
校正到主标准的基准卡的最大平均信号幅度
门O
j.V单个信号幅度individualsignalamplitude
单一读出电压信号的峰一峰值幅度
Cn
J奄s测试密度testdensity
可用于测试的密度为8ftpmm及20ftpmma
注:当用基准卡测试时,可以使用的密度为6ftpmm及16.6ftpmm,该相关因数是
86ffttppmmmmF-l'fftr}jotffffiffftX。。‘一。。%‘
16.6ftpmm下的幅度
20ftpmm下的幅度X100二105
4识别卡的物理特性
识别卜应符合GB/T14916中给出的规范
注意:提请发卡方注意,保持在磁条匕的信息可能由于污染而失效,这种污染是与污物以及与一些
经常使用的化学物(包括增塑剂)相接触而产生的。另外,卡暴露在强磁场中也易于毁坏已记录的数据。
5磁性材料的物理特性
51厚度
用半径为。.38mm至2.54mm的探针在卡背面的读表面上沿轮廓探测时,读表面的高度最小应
为0mm,最大应为0.038mmo
5.2表面粗糙度
如果使用0.25mm或。.76mm的截止波长和最大半径为2.54ptn的探针测量,磁表面的平均表
面不规则度在纵向和横向上都不应超过。.404pmI护线平均值(CLA),,
5.3表面轮廓
以。.38mm至2.54mm半径的探针平行于卜的高度测量时,最小磁条宽度的平均轮1`}s见图工和
图2)表示为与连接最小磁条宽度的直线的垂直偏差,每2.54mm磁条宽度其值都不应超过3.8mri(见
图3)。
测量期间,应通过在测量区背面均匀地施加2.2N的力,使卡的背面(磁条面)与该表面保持平行
注:①在热贴压时由“喷出”物导致的轮廓中的尖峰不是磁条的一部分,它不应超出预定磁条面(见图4)
②建议不要将磁性材料放置在印刷处的顶部。当出现边缘渗入时(墨水覆盖r涂层封印),该卡较易受损及变
形。
③为r确保均匀性,有必要规定一种测定表面轮廓的方法日前测试方法正在评定中、取得一致意见的规程将
尽早补充到本标准巾
5.4磁条与识别P的粘合
在正常使用情况下磁条不应与卡分离。
ce/T15120.2一94
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图I仪用在ID-1型卡仁第1和第2磁道的磁性材料的位置
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定制服务
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