XB/T 610.1-2007 钐钴1:5型永磁合金粉化学分析方法 钐、钴量的测定 X-射线荧光光谱法

XB/T 610.1-2007 Chemical analysis methods for samarium cobalt permanent magnet alloy powder—Determination of samarium and cobalt—X-ray fluorescence spectrometric method

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基本信息

标准号
XB/T 610.1-2007
标准类型
行业标准-稀土
标准状态
被代替
中国标准分类号(CCS)
-
国际标准分类号(ICS)
-
发布日期
2007-08-01
实施日期
2008-01-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家发展和改革委员会
归口单位
全国稀土标准化技术委员会
适用范围
本部分规定了钐钴1∶5型永磁合金粉中钐、钴量的测定方法。 本部分适用于钐钴1∶5型永磁合金粉中钐、钴量的测定。测定范围:金属钐(质量分数)20.00%~50.00%;金属钴(质量分数)50.00%~80.00%。

研制信息

起草单位:
上海跃龙新材料股份有限公司
起草人:
张飞、金杰、杨萍、许涛
出版信息:
页数:8页 | 字数:7 千字 | 开本: 大16开

内容描述

中华人民共和国稀土行业标准

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犡犅犜610.12007

钐钴1∶5型永磁合金粉化学分析方法

钐、钴量的测定

ㅤㅤㅤㅤ

犡射线荧光光谱法

犆犺犲犿犻犮犪犾犪狀犪犾狊犻狊犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉狊犪犿犪狉犻狌犿犮狅犫犪犾狋犲狉犿犪狀犲狀狋犿犪狀犲狋犪犾犾狅狅狑犱犲狉

狔狆犵狔狆

犇犲狋犲狉犿犻狀犪狋犻狅狀狅犳狊犪犿犪狉犻狌犿犪狀犱犮狅犫犪犾狋—

犡狉犪犳犾狌狅狉犲狊犮犲狀犮犲狊犲犮狋狉狅犿犲狋狉犻犮犿犲狋犺狅犱

狔狆

20070801发布20080101实施

中华人民共和国国家发展和改革委员会发布

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犡犅犜610.12007

钐钴1∶5型永磁合金粉化学分析方法

钐、钴量的测定

犡射线荧光光谱法

1范围

本部分规定了钐钴1∶5型永磁合金粉中钐、钴量的测定方法。

本部分适用于钐钴1∶5型永磁合金粉中钐、钴量的测定。测定范围:金属钐(质量分数)20.00%~

50.00%;金属钴(质量分数)50.00%80.00%。

2方法原理

试样用硝酸分解,以矾做内标,制成滤纸片薄样,采用内标法选择相应的数学模型,用射线荧光

光谱法测定。

3试剂与材料

3.1氧化钐(质量分数)99.99%。

3.2金属钴,光谱纯。

3.3五氧化二钒,光谱纯。

盐酸()。ㅤㅤㅤㅤ

3.41+1

硝酸()。

3.51+1

钐标准贮存溶液:将氧化钐()于灼烧,放入干燥器中冷却至室温。称取,置

3.63.1850℃1h5.7981

于烧杯中,用水润湿,加入硝酸(),低温加热溶解,冷却后移入容量瓶中,用

250mL30mL3.5100mL

水稀释至刻度,混匀。此溶液含金属钐。

1mL50mg

钴标准贮存溶液:称取金属钴(),加入适量硝酸()低温溶解,冷却后移入

3.75.0003.23.5100mL

容量瓶中,用水稀释至刻度,混匀。此溶液含金属钴。

1mL50mg

3.8五氧化二钒内标溶液:称取1.000五氧化二钒(),置于烧杯中,加入盐酸

3.3250mL20mL

(),低温溶解,冷却后移入容量瓶中,用水稀释至刻度,混匀。此溶液含五氧化

3.4100mL1mL10mg

二钒。

氩甲烷气体:(体积分数)甲烷,(体积分数)氩气。

3.9P1010%90%

3.10定量滤纸:35mm40mm。

4仪器

射线荧光光谱仪:射线管功率不低于。

4.1XX2kW

4.2分光晶体:。

LiF200

5分析步骤

5.1试料

称取0.1g试样,精确到0.001g。

5.1.1薄样片制备

将试料()置于烧杯中加入硝酸(),低温加热溶解,冷却后移入容量瓶

5.150mL0.6mL3.510mL

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犡犅犜610.12007

中,加入五氧化二钒溶液(),用水稀释至刻度,混匀。移取试液,均匀滴于定量滤

1.00mL3.80.2mL

纸片()上,在红外灯下烘干,保持于干燥器中待测。

3.10

5.1.2标样制备

按表分别移取标准贮存溶液(),置于一系列容量瓶中,各加入五氧化

13.63.710mL1.00mL

二钒内标溶液(),稀释至刻度,混匀,按制片。

3.85.1.1

表1

元素1234567

Sm移取量/mL0.400.500.600.700.800.901.00

Co移取量/mL1.601.501.401.301.201.101.00

5.2测定条件

测定条件见表。

表2

元素电压/kV电流/mA准直器分析晶体分析线探测器光路测量时间/s

Sm6045细LiF200LF真空40

α

Co6045细LiF200KαF真空20

V6045细LiF200KαF真空40

5.3回归分析

将测得的标样()各元素分析线的强度比,选用数学模型进行回归分析。

5.1.2

5.4测定

按条件()测定薄片样()。ㅤㅤㅤㅤ

5.25.1.1

6分析结果的计算与表述

按式()计算、元素的含量(质量分数):

6.11SmCo

()

犚犻

()()()………………()

狑犻犇犻犈犻1

=+×

()

犚犻犚

式中:

()———归一化前分析元素的含量(质量分数);

狑′犻犻

()———分析元素的曲线的截距;

犇犻犻

()———分析元素的曲线的斜率;

犈犻犻

()/()———分析元素与内标元素的强度比。

犚犻犚犻犚

按式()归一化处理:

6.22

狑()

∑犼

()()100………………()

狑犻狑′犻2

=×-

()

∑狑′犻

式中:

()———归一化后分析元素的含量(质量分数);

狑犻犻

()———归一化前分析元素的含量(质量分数)之和;

∑狑′犻犻

狑()———杂质元素总和。

∑犼

7精密度

7.1重复性

在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值,在以下给出的平均值的范围内,这两个测试结

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犡犅犜610.12007

果的绝对差值不超过重复性限(),超过重复性限()的情况不超过,重复性限()按表数据采用线

狉狉5%狉3

性内插法求得。

表3

样品名称元素含量(质量分数)/重复性限()/

%狉%

Sm15.100.21

Sm39.850.25

Sm54.800.30

钐钴1∶5型永磁合金粉

Co45.500.25

Co60.450.30

Co84.700.35

注:重复性限()为,为重复性标准差。

狉2.8×犛狉犛狉

7.2允许差

实验室之间分析结果的差值应不大于表所列允许差。

表4

测定元素含量范围(质量分数)/%允许差/%

Sm20.00~50.000.50

Co50.00~80.000.50

8质量保证和控制

ㅤㅤㅤㅤ

每周用自制的控制标样(如有国家级或行业级标样时,应首先使用)校核一次本标准分析方法的有

效性。当过程失控时,应找出原因,纠正错误,重新进行校核。