GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法
GB/T 14844-1993 Designations of semiconductor materials
基本信息
标准号
GB/T 14844-1993
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
1993-12-24
实施日期
1994-09-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1993年12月
-
2018年12月
研制信息
- 起草单位:
- 中国有色金属工业总公司标准计量研究所
- 起草人:
- 吴福立、袁建忠
- 出版信息:
- 页数:5页 | 字数:7 千字 | 开本: 大16开
内容描述
621-315-592
UHDC80
石旨
中华人民共和国国家标准
Gs/T14844一93
半导体材料牌号表示方法
Designationsofsemiconductormaterials
1993一12一24发布1994一09一01实施
国家技术监督局发布
中华人民共和国国家标准
Gs/T14844一93
半导体材料牌号表示方法
Designationsofsemiconductormaterials
1主题内容与适用范围
本标准规定了半导体多晶、单晶、晶片和外延片产品牌号的表示方法。
本标准适用于编制半导体材料的牌号。在编写国家标准和行业标准时,应采用本标准所规定的牌号
表示方法。产品出厂时,应使用本标准规定的牌号标志。
2牌号分类
按照晶体结构和产品形状,半导体材料牌号分为多晶、单晶、晶片和外延片四类。
3牌号表示方法
3.,多晶牌号
半导体多晶的牌号表示为:
口一口一口一(口)一口
1,2,3,4,5分别代表牌号的第一项至第五项。
3.1.1牌号的第一项表示多晶的生产方法或特殊用途,或生产方法与特殊用途的组合,分别用英文的
第一个字母或其字母组合的大写形式表示,其中:
C表示铸造法;
b.IR表示红外光学用途;
c.R表示还原法;
d.Z表示区熔法。
3.1.2牌号的第二项中P表示多晶,分子式表示多晶名称。
3.1.3牌号的第三项表示多晶的形状,分别用英文第一个字母的大写形式表示,其中:
a.I表示棒状;
b.N表示块状。
3.1.4牌号的第四项中括号内的元素符号表示掺杂剂。
3.1.5牌号的第五项中用
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