GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
GB/T 17473.1-2008 Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of solids content
国家标准
中文简体
现行
页数：4页
|
格式：PDF
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2008-03-31
实施日期
2008-09-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
适用范围
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。
本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。
发布历史
-
1998年08月
-
2008年03月
研制信息
- 起草单位：
- 贵研铂业股份有限公司
- 起草人：
- 陈一、张骏、朱武勋
- 出版信息：
- 页数：4页 | 字数：5 千字 | 开本： 大16开
内容描述
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中华人民共和国国家标准
／—
犌犅犜１７４７３．１２００８
代替／—
ＧＢＴ１７４７３．１１９９８
微电子技术用贵金属浆料测试方法
固体含量测定
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狆狆
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２００８０３３１发布２００８０９０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布
中国国家标准化管理委员会
／—
犌犅犜１７４７３．１２００８
前言
本标准是对／—《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》（所有部分）的整合修
ＧＢＴ１７４７３１９９８
订，分为个部分：
７
———／—微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定；
ＧＢＴ１７４７３．１２００８
———／—微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定；
ＧＢＴ１７４７３．２２００８
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