GB/T 24579-2009 酸浸取 原子吸收光谱法测定 多晶硅表面金属污染物

GB/T 24579-2009 Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-atomic absorption spectroscopy

国家标准 中文简体 现行 页数:11页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 24579-2009
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2009-10-30
实施日期
2010-06-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
适用范围
-

发布历史

研制信息

起草单位:
信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所
起草人:
褚连青、王奕、魏利洁
出版信息:
页数:11页 | 字数:16 千字 | 开本: 大16开

内容描述

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中华人民共和国国家标准

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酸浸取原子吸收光谱法测定

多晶硅表面金属污染物

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20091030发布20100601实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

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犌犅犜245792009

前言

本标准修改采用《采用酸萃取原子吸收光谱法测量多晶硅表面金属沾污》。

SEMIMF17241104

本标准对

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