适用范围：1.1 本标准适用于检验金属的均匀性，无论是固态的，或粉末状的，还是磨得很细的氧化物材料，这些材料是准备在X射线发射光谱分析中，或光学发射光谱分析中，或在两者中用作参考物质。但作为标准样品合格的判断标准，必须由使用者预先确定以满足其特定的需要。 1.2 本标准主要是为以X射线发射光谱法或光学发射光谱法，或兼用两法检验样品而设计的。然而，该规则可能容易地为其它仪器方法如原子吸收分光光度测定法所采用。 1.3 只要信号与背景比不是限制因素，本标准可以适用于一个样品中的一个或多个元素。 1.4 如想通过使用一个控制用参考物质校正仪器中随着时间产生的系统漂移或周期性(正弦式的〕漂移，本规则包括这一种方法。 注1：注意，如果存在严重的漂移(例如不稳定的电源，X射线管等)，可以从数据分析得到。 1.5 本标准可能涉及到危险材料、操作和设备。本标准无意提出与其使用有关的全部安全问题。在应用前查阅和建立适当的安全和卫生规则并确定管理界限的适用范围是使用本标准者的责任

适用范围：1.1 本标准为光谱化学分析工作曲线的确定和控制提供指南。虽然分析工作曲线的确定和日常控制操作上相互关联，但应分开考虑。本规则适用于线性或对数读出方式的光学摄谱仪、光学光谱仪和X射线发射光谱仪。 1.2 无论如何，该标准不表示它可以随意地应用于任何地方。建立恰当、安全、完善的应用规则，优先确定受该规则界限限制的使用范围，是该标准使用者使用该标准的前提

适用范围：本标准规定了用单片磁导计测量电工钢片（带）小单片试样的磁化装置、取样、试样、测量装置、测量、等效磁路长度的确定、测量结果的不确定度等