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  SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
  译：SJ/T 2354-2015 Pin and avalanche photodiode testing methods
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.180印制电路和印制电路板 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
  译：SJ/T 11497-2015 The test method for thermal stability of gallium arsenide wafers
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11527-2015 磁盘阵列通用规范
  译：SJ/T 11527-2015
  【国际标准分类号(ICS)】 ：35.240.01信息技术应用综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：L67计算机应用
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11523-2015 线阵列扬声器系统用音箱性能测试方法
  译：SJ/T 11523-2015 The performance testing method for line array speaker systems using speakers
  【国际标准分类号(ICS)】 ：33.160.01音频、视频和视听系统综合 【中国标准分类号(CCS)】 ：M72音响、电声设备
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11518-2015 表面贴装技术印刷模板
  译：SJ/T 11518-2015 Surface Mount Technology Printing Template
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11310.2-2015 信息设备资源共享协同服务 第2部分：应用框架
  译：SJ/T 11310.2-2015 Information Equipment Resource Sharing Collaborative Service Part 2: Application Framework
  【国际标准分类号(ICS)】 ：35.200接口和互连设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L65系统设备接口
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量
  译：SJ/T 11496-2015
  【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H83化合物半导体材料
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11506-2015 集成电路用 铝腐蚀液
  译：SJ/T 11506-2015 Aluminum Etchant for Integrated Circuits
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 11534-2015 微波电路用覆铜箔聚四氟乙烯玻纤布层压板
  译：SJ/T 11534-2015 Copper-clad poly tetrafluoroethylene glass fiber cloth laminate board for microwave circuits
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.180印制电路和印制电路板 【中国标准分类号(CCS)】 ：L30印制电路
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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  SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
  译：SJ/T 2214-2015 Testing methods for semiconductor photo-diodes and photo-transistors
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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