无数据~
暂无内容
请重新选择[分类]、[状态]、[年份]
为您推荐您可能感兴趣的内容:
  • SJ/T 11530-2015 信息技术 开关型电源适配器通用规范 现行
    译:SJ/T 11530-2015
    【国际标准分类号(ICS)】 :35.240.40信息技术在银行中的应用 【中国标准分类号(CCS)】 :L63计算机外围设备
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11520.8-2015 同轴通信电缆 第8-8部分:75-141 型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范 现行
    译:SJ/T 11520.8-2015 Coaxial communication cables - Part 8-8: Detailed specification for semi-flexible cables with PTFE insulated types 75-141
    【国际标准分类号(ICS)】 :33.120.10同轴电缆、波导和其他射频电缆 【中国标准分类号(CCS)】 :L26波导同轴元件及附件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11466-2014 红外遥控接收放大器 现行
    译:SJ/T 11466-2014 infrared remote control receiver amplifier
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L52红外器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2014-05-06 | 实施时间: 2014-07-01
  • SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法 现行
    译:SJ/T 11490-2015 The measurement method for the pit density of polished gallium arsenide wafers with low dislocation density
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法 现行
    译:SJ/T 11489-2015 The measurement method for the low-dislocation density indium phosphide polished surface pit density
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法 现行
    译:SJ/T 2215-2015 Semiconductor photoelectric coupler testing method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 :L50/54光电子器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11509-2015 液晶显示器用 ITO腐蚀液 现行
    译:SJ/T 11509-2015 Liquid crystal display (LCD) etchant for indium tin oxide (ITO) use
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.030电子技术专用材料 【中国标准分类号(CCS)】 :L90/94电子设备与专用材料、零件、结构件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11505-2015 蓝宝石单晶抛光片规范 现行
    译:SJ/T 11505-2015 Ruby monocrystal polishing specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法 现行
    译:SJ/T 11501-2015
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H83化合物半导体材料
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • SJ/T 11378.7-2015 等离子体显示器件 第7部分:数字电视机用等离子体显示器件可靠性试验方法 现行
    译:SJ/T 11378.7-2015 Plasma display device - Part 7: Reliability testing methods for plasma display devices for digital televisions
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L47其他
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01