适用范围：本文件规定了化学试剂乙醇(无水乙醇)的性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装及标志。本文件适用于化学试剂乙醇(无水乙醇)的检验。注： 化学试剂乙醇(无水乙醇)示性式为CH3CH2OH，相对分子质量为46.07(根据2022年国际相对原子质量)，CAS号为64175。

适用范围：本文件规定了采用波长色散X射线荧光光谱法(钴内标法)测定全铁、硅、铝、钙、镁、锰、钛、钒、磷、铜、铅、铬、锌、砷、钾和硫含量的方法。 本文件适用于铁矿石、铁精矿、烧结矿及球团矿中下列各元素的测定，测定范围见表1。

适用范围：本文件描述了氧化铝松装和振实密度的测定方法。本文件适用于氧化铝松装和振实密度的测定，氢氧化铝、精细氧化铝及其他固体颗粒物料可参照执行。

适用范围：本文件规定了化学试剂硝酸锶的性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装及标志。本文件适用于化学试剂硝酸锶的检验。注： 化学试剂硝酸锶分子式为Sr(NO3)2，相对分子质量为211.63(根据2022年国际相对原子质量)，CAS号为10042769。

适用范围：本文件描述了用筛分法测定氧化铝粒度分布的方法。本文件适用于氧化铝粒度分布的测定。干筛法适用于粒径小于45 μm的颗粒含量小于50%的粒度分布测定；湿筛法适用于范围为16 μm~63 μm粒度分布的测定；溶剂冲洗法适用于粒径小于20 μm的颗粒含量小于或等于4%的粒度分布的测定。

适用范围：本文件描述了用氮吸附法测定氧化铝比表面积（SSA)的方法。 本文件适用于氧化铝比表面积的测定，测定范围：50.0 m2/g～150.0 m2/g。

适用范围：本文件描述了非接触涡流法测试半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的方法。 本文件适用于测试直径或边长不小于25.0 mm、厚度为0.1 mm～1.0 mm的硅、导电型砷化镓、导电型碳化硅单晶片的电阻率，以及衬底上制备的电阻不小于薄膜电阻1 000倍的薄膜薄层的电阻。单晶片电阻率的测试范围为0.001 Ω·cm～200 Ω·cm，薄膜薄层电阻的测试范围为2.0×103 Ω/～3.0×103 Ω/。本方法也可以扩展到其他半导体材料中，但不适用于晶片径向电阻率变化的判定。

适用范围：本文件规定了化学分析用铁矿石有证标准样品物理特性、制备、定值、标准样品证书内容、标准值的定期审查、客户记录的要求。本文件适用于化学分析用铁矿石有证标准样品的制备和定值。

适用范围：本文件规定了化学试剂六水合硝酸锌(硝酸锌)的性状、技术要求、试验方法、检验规则和包装及标志。本文件适用于化学试剂六水合硝酸锌(硝酸锌)的检验。注： 化学试剂六水合硝酸锌(硝酸锌)分子式为Zn(NO3)2·6H2O，相对分子质量为297.48(根据2022年国际相对原子质量)，CAS号为10196186。

适用范围：本文件描述了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定稀土总量的方法。 本文件适用于铁矿石、铁精矿、烧结矿、球团矿产品中稀土总量的测定。测定范围（质量分数)：0.10%～15.00%。