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  • GB/T 29503-2013 铝合金预拉伸板 被代替
    译:GB/T 29503-2013 Aluminium alloy stretched plates
    适用范围:本标准规定了铝合金预拉伸板的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及质量证明书与订货单(或合同)内容。 本标准适用于固溶热处理后按1.5%~3%的规定量进行拉伸的铝合金板材(以下简称板材)。
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.150.10铝产品 【中国标准分类号(CCS)】 :H61轻金属及其合金
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29508-2013 300 mm硅单晶切割片和磨削片 现行
    译:GB/T 29508-2013 300 mm monocrystalline silicon as cut slices and grinded slices
    适用范围:本标准规定了直径300 mm、p型、晶向、电阻率0.5Ω·cm~20Ω·cm的硅单晶切割片和磨削片(简称硅片)产品的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于直径300 mm直拉单晶经切割、磨削制备的圆形硅片,产品将进一步加工成抛光片,用于制作集成电路IC用线宽90nm技术需求的衬底片。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H82元素半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29509.2-2013 载金炭化学分析方法 第2部分:银量的测定 火焰原子吸收光谱法 现行
    译:GB/T 29509.2-2013 Methods for chemical analysis of gold-loaded carbon—Part 2:Determination of silver content—Flame atomic absorption spectrometry
    适用范围:GB/T 29509的本部分规定了载金炭中银量的测定方法。 本部分适用于载金炭中银量的测定。测定范围:10.0 g/t~2 500.0 g/t。
    【国际标准分类号(ICS)】 :73.060.99其他金属矿 【中国标准分类号(CCS)】 :D46贵金属矿
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法 现行
    译:GB/T 29507-2013 Test method for measuring flatness,thickness and total thickness variation on silicon wafers—Automated non-contact scanning
    适用范围:本标准规定了直径不小于50 mm,厚度不小于100 μm的切割、研磨、腐蚀、抛光、外延或其他表面状态的硅片平整度、厚度及总厚度变化的测试。 本标准为非破坏性、无接触的自动扫描测试方法,适用于洁净、干燥硅片的平整度和厚度测试,且不受硅片的厚度变化、表面状态和硅片形状的影响。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H80/84半金属与半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29502-2013 硫铁矿烧渣 被代替
    译:GB/T 29502-2013 Purple ore
    适用范围:本标准规定了硫铁矿烧渣的要求、试验方法、检验规则、包装、标识、运输、贮存及合同(或订货单)内容等。 本标准适用于硫铁矿经高温焙烧产生的烧渣,主要用于制造铁球团、炼铁。
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.120.01有色金属综合 【中国标准分类号(CCS)】 :H30/34冶金原料与辅助材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 现行
    译:GB/T 29505-2013 Test method for measuring surface roughness on planar surfaces of silicon wafer
    适用范围:本标准提供了硅片表面粗糙度测量常用的轮廓仪、干涉仪、散射仪三类方法的测量原理、测量设备和程序,并规定了硅片表面局部或整个区域的标准扫描位置图形及粗糙度缩写定义。 本标准适用于平坦硅片表面的粗糙度测量;也可用于其他类型的平坦晶片材料,但不适用于晶片边缘区域的粗糙度测量。 本标准不适用于带宽空间波长≤10 nm的测量仪器。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H80/84半金属与半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29509.1-2013 载金炭化学分析方法 第1部分:金量的测定 现行
    译:GB/T 29509.1-2013 Methods for chemical analysis of gold-loaded carbon—Part 1:Determination of gold content
    适用范围:GB/T 29509的本部分规定了载金炭中金量的测定方法。 本部分适用于载金炭中金含量的测定。测量范围:100.0 g/t~10 000.0 g/t。
    【国际标准分类号(ICS)】 :73.060.99其他金属矿 【中国标准分类号(CCS)】 :D46贵金属矿
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29506-2013 300 mm硅单晶抛光片 现行
    译:GB/T 29506-2013 300 mm polished monocrystalline silicon wafers
    适用范围:本标准规定了直径300 mm、p型、100晶向、电阻率0.5 Ω·cm~20 Ω·cm规格的硅单晶抛光片的术语和定义、技术要求、试验方法、检测规则以及标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于直径300 mm直拉单晶磨削片经双面抛光制备的硅单晶抛光片,产品主要用于满足集成电路IC用线宽90 nm技术需求的衬底片。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H82元素半导体材料
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29510-2013 个体防护装备配备基本要求 被代替
    译:GB/T 29510-2013 General requirements for the distribution of personal protection equipment
    适用范围:本标准规定了个体防护装备配备的基本要求、危险有害因素的辨识原则和方法、配备程序、分类、分级及适用范围、配备要求、管理与培训等。 本标准适用于生产经营单位个体防护装备的选择、配备、使用、维护及报废的管理。
    【国际标准分类号(ICS)】 :13.340.01防护设备综合 【中国标准分类号(CCS)】 :C73劳动防护用品
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01
  • GB/T 29511-2013 防护服装 固体颗粒物化学防护服 被代替
    译:GB/T 29511-2013 Protective clothing—Chemical protective clothing against solid particulates
    适用范围:本标准规定了固体颗粒物化学防护服的分级、基本性能要求、测试方法以及标识。 本标准适用于防护作业场所环境中存在颗粒物化学污染的工作人员皮肤防护所需的防护服。 本标准不包括配套使用的呼吸防护用品、防护手套、防护鞋等其他个体防护装备的技术要求。
    【国际标准分类号(ICS)】 :13.340.10防护服装 【中国标准分类号(CCS)】 :C73劳动防护用品
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 2013-05-09 | 实施时间: 2014-02-01