适用范围：本部分规定了长霉试验用的菌种，试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本部分不适用于常规生产检查。 本试验目的是研究长霉对试样的光学、化学、机械和电气的工作性能的影响程度，以及估价霉菌代谢产物（比如酶或酸性物质）导致对零件的腐蚀程度或引起线路板的短路等严重程度。

适用范围：本部分规定了弹跳或恒加速度与高温或低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验 标记。

适用范围：本部分规定了露、霜、冰试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验的目的是研究试样的光学、热学、机械和电器等特性受露、霜、冰的影响的程度。

适用范围：本部分规定了冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学和电学性能受到冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温影响变化的程度。

适用范围：本部分规定了振动(正弦)与高温、低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电气等性能受振动(正弦)与高温、低温的影响时的变化程度。

适用范围：本部分规定了环境试验方法的术语和定义、试验程序及环境试验标记。                     本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本部分规定了宽带随机振动（数字控制）综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验 标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电气等性能受到宽带随机振动（数字控制）与高温、低温影响时的变化程度。

适用范围：B/T 11026的本部分规定了包括电气绝缘材料耐热性评定用或其他适度热调节应用(不适用单室老化烘箱)的耐热性评定用多室老化烘箱的通风与加热的基本要求。 本部分适用于在比环境温度提高20K直到500 ℃的整个或部分温度范围内运行的烘箱。 本部分还提出了老化烘箱在装有样品与不装样品的条件下的验收试验与运行监控试验。

适用范围：本部分规定了污染试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分中所指的“污染”的含义是腐蚀性化学物质1）(以下称试剂）同光学仪器的接触。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。