适用范围：本文件提供了仪器操作者对固体材料表面进行紫外光电子能谱分析的指导，包括样品处理、谱仪校准和设定、谱图采集以及最终报告。 本文件适用于配备有真空紫外光源的X射线光电子能谱仪的操作者分析典型样品。

适用范围：本文件描述了采用离子色谱仪测定石墨烯粉体中水溶性阴离子含量的方法。本文件适用于石墨烯粉体中的水溶性氟离子（F-）、氯离子（Cl-）、亚硝酸根离子（NO2-）、溴离子（Br-）、硝酸根离子（NO3-）、硫酸根离子（SO42-）、磷酸根离子（PO43-）的测定。其他水溶性阴离子含量的测定也可参考本文件执行。

适用范围：本文件规定了荧光增白剂迁移性测定的方法提要、试剂和材料、仪器和设备、测定步骤、试验报告。 本文件适用于荧光增白剂迁移性的测定。

适用范围：本文件规定了裸眼3D柱透镜光栅膜（以下简称“柱透镜光栅膜”)光学测量方法的术语和定义、测量条件、测量设置、测量内容和步骤、测试报告。 本文件适用于裸眼立体显示柱透镜光栅膜片的3D光学性能评价。

适用范围：本文件规定了绝热制品中六溴环十二烷（HBCD)的限值和试验方法。本文件适用于模塑聚苯乙烯泡沫塑料、挤塑聚苯乙烯泡沫塑料等绝热制品中六溴环十二烷的测定，其他材料可参照执行。

适用范围：本文件规定了采用电子背散射衍射（electron backscatter diffraction，EBSD）法测量钢中奥氏体体积分数和形态的方法、设备、取样和试样制备、测量步骤、数据处理和检验报告。 本文件适用于分析含有晶粒尺寸50 nm以上奥氏体的中、低碳钢及中、低碳合金钢。 本文件不适用于分析晶粒尺寸小于50 nm的奥氏体，奥氏体晶粒尺寸小于50 nm会严重影响定量分析结果的准确性。 注： 晶粒尺寸下限是可观察到的最小奥氏体晶粒尺寸。晶粒尺寸下限取决于设备条件和操作参数。

适用范围：本文件规定了采用气相色谱质谱法（GC/MS)测定染料产品中18种多环芳烃残留量的方法。 本文件适用于各种类别染料产品中多环芳烃的测定。

适用范围：本文件界定了旋转接头的术语和定义。本文件适用于将流体介质由固定管道输送到旋转或摆转到一个角度的管道、设备中的流体动密封装置。

适用范围：本文件规定了如何报告X射线光电子能谱的峰拟合及其结果。本文件适用于单个谱图或一组相关谱图的拟合，例如在深度剖析测试中采集获得的一组相关谱图。本文件提供了一个应报告的参数列表，以实现可重复的峰拟合或对多个谱进行拟合与比较。本文件不提供峰拟合的操作说明，也不提供应采用的拟合步骤。

适用范围：本文件描述了采用燃烧离子色谱仪测定石墨烯粉体中硫、氟、氯、溴含量的方法。本文件适用于石墨烯粉体中硫、氟、氯、溴含量的测定。