无数据~
暂无内容
请重新选择[分类]、[状态]、[年份]
为您推荐您可能感兴趣的内容:
  • GB/T 14145-1993 硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法 废止
    译:GB/T 14145-1993 Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy
    【国际标准分类号(ICS)】 :49.090机上设备和仪器 【中国标准分类号(CCS)】 :H24金相检验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1993-02-06 | 实施时间: 1993-10-01
  • GB/T 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 被代替
    译:GB/T 14144-1993 Test method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
    【国际标准分类号(ICS)】 :49.035航空航天制造用零部件 【中国标准分类号(CCS)】 :H26金属无损检验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1993-02-06 | 实施时间: 1993-10-01
  • YY/T 0110-1993 医用超声压电陶瓷材料 被代替
    译:YY/T 0110-1993 Medical ultrasonic piezoelectric ceramic material
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
    发布单位或类别:(CN-YY)行业标准-医药 | 发布时间: 1993-02-10 | 实施时间: 1993-05-01
  • YY 0108-1993 M型脉冲反射式超声诊断设备 被代替
    译:YY 0108-1993 M-type pulse reflection ultrasonic diagnostic device
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
    发布单位或类别:(CN-YY)行业标准-医药 | 发布时间: 1993-02-10 | 实施时间: 1993-05-01
  • GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 被代替
    译:GB/T 14146-1993 Silicon epitaxial layers—Determination of carrier concentration—Mercury probe Valtage-capacitance method
    【国际标准分类号(ICS)】 :77.120有色金属 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1993-02-06 | 实施时间: 1993-10-01
  • GB/T 14142-1993 硅外延层晶体完整性检查方法 腐蚀法 被代替
    译:GB/T 14142-1993 Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H26金属无损检验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1993-02-06 | 实施时间: 1993-10-01
  • GB/T 14143-1993 300~900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法 被代替
    译:GB/T 14143-1993 300~900μm Silicon slices—Measuring of interstitial oxygen content—Infrared absorption method
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 :H26金属无损检验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1993-02-06 | 实施时间: 1993-10-01
  • GB/T 14141-1993 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 被代替
    译:GB/T 14141-1993 Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H21金属物理性能试验方法
    发布单位或类别:(CN-GB)国家标准 | 发布时间: 1993-02-06 | 实施时间: 1993-10-01
  • YY 0114-1993 医用输液、输血、注射器用聚乙烯专用料 被代替
    译:YY 0114-1993
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :暂无
    发布单位或类别:(CN-YY)行业标准-医药 | 发布时间: 1993-02-10 | 实施时间: 1993-05-01
  • YY 0115-1993 一次性使用采血器 废止
    译:YY 0115-1993 Disposable blood collection device
    【国际标准分类号(ICS)】 :暂无 【中国标准分类号(CCS)】 :C44医用化验设备
    发布单位或类别:(CN-YY)行业标准-医药 | 发布时间: 1993-02-10 | 实施时间: 1993-05-01